特許

J-GLOBAL ID：200903013501650706

円偏光二色性測定装置

発明者： 河村 達朗 ,  大西 宏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 松田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-153469
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005165
出願日： 1995年06月20日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 波長を固定して測定する円偏光二色性測定装置を簡単な構成で安価に実現する事を目的とする。【構成】 同波長で交互に発光させる2つの光源1,2と、偏光ビームスプリッター6と、1/4波長板7とによって左右円偏光を交互に被検試料8に照射する円偏光二色性測定装置である。

請求項（抜粋）：

直線偏光を発生させる偏光発生手段と、前記発生される直線偏光を利用して、予め定められた波長を有する前記直線偏光についてのみ、互いに実質的に逆向きの回転方向を有する2種類の円偏光に変換させる円偏光変換手段と、所定の計測対象に照射される前記各円偏光の内、その計測対象を透過する各透過円偏光を検出する透過光検出手段と、その透過光検出手段の検出結果に基づいて、前記計測対象による前記各円偏向の吸収量の差を算出する算出手段と、を備えたことを特徴とする円偏光二色性測定装置。

IPC (3件)：

G01J 4/00 ,  G01N 21/19 ,  G01N 21/21

FI (3件)：

G01J 4/00 ,  G01N 21/19 ,  G01N 21/21 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特公昭47-032040
  
• 半導体レーザ光源装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-010515   出願人：富士写真フイルム株式会社
• 複屈折の測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-223192   出願人：株式会社リコー
• 特開平3-130645