特許
J-GLOBAL ID：200903013846190970
テラヘルツ波分光計測によるターゲット判別方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
堀田 実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-082466
公開番号（公開出願番号）：特開2004-286716
出願日： 2003年03月25日
公開日（公表日）： 2004年10月14日
要約：
【課題】従来のX線写真では判断できなかった内在物の成分を、形状と共に、開封することなく、判別することができるテラヘルツ波を用いたターゲット判別方法及び装置を提供する。【解決手段】約1〜3THzのテラヘルツ波領域において、複数の異なる波長に対するターゲットの吸光度Sのスペクトル[S]を予め計測する分光スペクトル計測ステップと、被対象物に前記各波長のテラヘルツ波を照射して、被対象物の吸光度Iを計測する被対象物分光計測ステップとを有し、吸光度Sのスペクトル[S]と被対象物の吸光度Iのスペクトル[I]から、対象物の成分の有無を判別する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
約1〜3THzのテラヘルツ波領域において、複数の異なる波長に対するターゲットの吸光度Sのスペクトル[S]を予め計測する分光スペクトル計測ステップと、
被対象物に前記各波長のテラヘルツ波を照射して、被対象物の吸光度Iを計測する被対象物分光計測ステップとを有し、
前記吸光度Sのスペクトル[S]と被対象物の吸光度Iのスペクトル[I]から、対象物の成分の有無を判別する、ことを特徴とするテラヘルツ波分光計測によるターゲット判別方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (13件)：
2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059KK01
, 2K002AA04
, 2K002AB12
, 2K002BA01
, 2K002CA03
, 2K002DA01
, 2K002HA21
