特許
J-GLOBAL ID:200903013934848551
気相成長用基板及びその加熱方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-225159
公開番号(公開出願番号):特開平10-070313
出願日: 1996年08月27日
公開日(公表日): 1998年03月10日
要約:
【要約】【課題】 サファイアなどの透光性、絶縁性を有する材料の上に気相成長する際に、基板がヒーターからの熱輻射等を効率良く受け、且つまた、均一に加熱されることを目的とした、気相成長用基板及びその加熱処理方法を提供するものである。【解決手段】 輻射に対し実質的に透明なウェーハと、前記ウェーハの一主面に密着形成され、輻射に対して実質的な吸収体となっている薄膜とから構成され、輻射によって前記薄膜に発生した熱が前記ウェーハに伝導することにより、前記ウェーハが加熱されるようにした、気相成長用基板を提供する。または、電気的に絶縁性を有するウェーハと、前記ウェーハの一主面に密着形成され、電気的に導電性を有する薄膜とから構成され、前記薄膜に誘導加熱により発生した熱が前記ウェーハに伝導することにより、前記ウェーハが加熱されるようにした、気相成長用基板を提供する。
請求項(抜粋):
輻射に対し実質的に透明なウェーハと、前記ウェーハの一主面に密着形成され、輻射に対して実質的な吸収体となっている薄膜とから構成され、輻射によって前記薄膜に発生した熱が前記ウェーハに伝導することにより、前記ウェーハが加熱されるようにした、気相成長用基板。
IPC (3件):
H01L 33/00
, H01L 21/02
, H01L 21/205
FI (3件):
H01L 33/00 Z
, H01L 21/02 B
, H01L 21/205
引用特許:
審査官引用 (6件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-303289
出願人:株式会社東芝
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特開昭57-208146
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特開昭57-042120
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特開昭59-061175
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特開昭62-128517
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成膜用基板および電気素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-182545
出願人:日本酸素株式会社
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