特許
J-GLOBAL ID:200903014003295075

エッチング方法、微細構造体の製造方法、導電線の形成方法、薄膜トランジスタの製造方法及び電子機器の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 稲葉 良幸 ,  田中 克郎 ,  大賀 眞司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-241316
公開番号(公開出願番号):特開2006-060076
出願日: 2004年08月20日
公開日(公表日): 2006年03月02日
要約:
【課題】本発明は、微細なパターンを単純な工程で形成し得るエッチング方法を提供することを目的としている。 【解決手段】 本発明は、基板上に膜形成材料を含む液滴を配置する第1工程と、前記液滴を乾燥し、前記配置時の液滴の径よりも狭い幅の乾燥膜を形成する第2工程と、前記乾燥膜をエッチング保護膜としてエッチングする第3工程と、を含むエッチング方法により、上記課題を解決する。前記第2工程の後に、前記乾燥膜の一部を除去することにより前記乾燥膜をパターニングする第4工程を含んでもよい。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
基板上に膜形成材料を含む液滴を配置する第1工程と、 前記液滴を乾燥し、前記配置時の液滴の径よりも狭い幅の乾燥膜を形成する第2工程と、 前記乾燥膜をエッチング保護膜としてエッチングする第3工程と、 を含むことを特徴とするエッチング方法。
IPC (6件):
H01L 21/306 ,  H01L 21/28 ,  H01L 29/786 ,  H01L 21/336 ,  H01L 21/027 ,  H01L 21/321
FI (7件):
H01L21/302 105A ,  H01L21/28 E ,  H01L29/78 617J ,  H01L29/78 616K ,  H01L29/78 627C ,  H01L21/30 502D ,  H01L21/88 C
Fターム (64件):
4M104AA01 ,  4M104AA09 ,  4M104BB02 ,  4M104BB17 ,  4M104DD37 ,  4M104DD66 ,  4M104DD71 ,  4M104GG09 ,  4M104GG10 ,  4M104GG14 ,  5F004BA04 ,  5F004DB02 ,  5F004DB08 ,  5F004DB30 ,  5F004EA03 ,  5F004EA05 ,  5F004EA06 ,  5F004EB02 ,  5F033HH08 ,  5F033HH11 ,  5F033HH13 ,  5F033HH21 ,  5F033PP15 ,  5F033QQ08 ,  5F033QQ13 ,  5F033QQ16 ,  5F033VV15 ,  5F046AA28 ,  5F110AA04 ,  5F110BB01 ,  5F110CC02 ,  5F110DD02 ,  5F110EE02 ,  5F110EE04 ,  5F110EE14 ,  5F110EE42 ,  5F110EE44 ,  5F110FF02 ,  5F110FF30 ,  5F110GG02 ,  5F110GG13 ,  5F110GG22 ,  5F110GG25 ,  5F110GG28 ,  5F110GG47 ,  5F110HJ01 ,  5F110HJ04 ,  5F110HJ13 ,  5F110HJ23 ,  5F110HK02 ,  5F110HK03 ,  5F110HK32 ,  5F110HK33 ,  5F110HK34 ,  5F110HL03 ,  5F110HL23 ,  5F110NN02 ,  5F110NN23 ,  5F110NN35 ,  5F110PP03 ,  5F110QQ02 ,  5F110QQ04 ,  5F110QQ06 ,  5F110QQ11
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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