特許
J-GLOBAL ID:200903014277142283

発光装置の検査方法及び検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 日向寺 雅彦 ,  市川 浩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-148078
公開番号(公開出願番号):特開2009-295796
出願日: 2008年06月05日
公開日(公表日): 2009年12月17日
要約:
【課題】発光装置のレンズの内部やレンズの下の発光部の画像検査を可能とする発光装置の検査方法及び検査装置を提供する。【解決手段】発光部51と、前記発光部51の上に設けられた透光体52と、を有する発光装置50の検査装置であって、前記発光装置50の光学像を得る光学像形成部60と、前記発光装置50と前記光学像形成部60との間に設けられ、透光性を有する透光板33と、前記発光装置50と前記透光板33との間に設けられ、延伸性と透光性とを有するフィルム31と、前記透光板33と前記フィルム31との間に設けられ、透光性を有するゲル状樹脂32と、を備えたことを特徴とする発光装置の検査装置が提供される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
発光部と、前記発光部の上に設けられた透光体と、を有する発光装置の検査装置であって、 前記発光装置の光学像を得る光学像形成部と、 前記発光装置と前記光学像形成部との間に設けられ、透光性を有する透光板と、 前記発光装置と前記透光板との間に設けられ、延伸性と透光性とを有するフィルムと、 前記透光板と前記フィルムとの間に設けられ、透光性を有するゲル状樹脂と、 を備えたことを特徴とする発光装置の検査装置。
IPC (1件):
H01L 33/00
FI (1件):
H01L33/00 K
Fターム (8件):
5F041AA46 ,  5F041DA12 ,  5F041DA13 ,  5F041DA18 ,  5F041DA43 ,  5F041DA57 ,  5F041DB01 ,  5F041EE17
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)

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