特許
J-GLOBAL ID：200903014324554382

クロマトグラフィー質量分析方法、及びクロマトグラフ質量分析装置

発明者：
山下 博教

山下 博教 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 平木 祐輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-218474
公開番号（公開出願番号）：特開2009-294231
出願日： 2009年09月24日
公開日（公表日）： 2009年12月17日
要約：
【課題】質量分析の結果を比較し、異なる試料に含まれる個々の成分を対応付け、その結果を確認し、変動成分を抽出する。【解決手段】複数成分が含まれている試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量電荷比に対応するイオン強度について、少なくとも2つの試料を比較する。そこで、質量スペクトルとして観測したイオン群において、それぞれの質量電荷比の一致と、イオン強度が指定した変動内に収まること等を以って、同じ成分が観測されているであろう保持時間として対応付ける。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
第1の試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量スペクトルの関係を表すデータをもとに、着目する成分のマスクロマトグラムあるいは各質量スペクトルにおけるイオン強度の最大値を保持時間に対してプロットしたベースピークイオンクロマトグラムからなる第1のクロマトグラムを作成する工程と、 第2の試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量スペクトルの関係を表す第2のデータをもとに、前記着目する成分のマスクロマトグラムあるいは各質量スペクトルにおけるイオン強度の最大値を保持時間に対してプロットしたベースピークイオンクロマトグラムからなる第2のクロマトグラムを作成する工程と、 前記第1のクロマトグラムのピークの質量スペクトルと前記第2のクロマトグラムのピークの質量スペクトルを比較して、前記第1のクロマトグラムのピークと前記第2のクロマトグラムのピークとの対応付けを行う工程と、 前記工程で対応付けられた第1と第2のクロマトグラムのピークの保持時間が同じになるように前記第2の試料の質量スペクトルの保持時間を補正する工程と を有することを特徴とするクロマトグラフィー質量分析方法。
IPC (1件)：
G01N 27/62
FI (3件)：
G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  G01N27/62 Y
Fターム (7件)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041HA01 ,  2G041MA01 ,  2G041MA02 ,  2G041MA05
引用特許：
審査官引用 (4件)
  • 質量分析システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-152788   出願人：日本電子株式会社
  • 質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-097996   出願人：株式会社島津製作所
  • クロマトグラム処理装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-342944   出願人：東ソー株式会社
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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