特許
J-GLOBAL ID：200903014528833426

電子部品自動搭載システム

発明者：
松橋 賢治

松橋 賢治 について


出願人/特許権者：
埼玉日本電気株式会社

埼玉日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-167371
公開番号（公開出願番号）：特開平11-017398
出願日： 1997年06月24日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：
【要約】【課題】電子部品の半田付け部位の半田付け品質を向上させる。【解決手段】この電子部品自動搭載システムは、搭載直前の工程における電子部品7を照明するLED照明部2と、このLED照明部2の照明による電子部品7の反射光3による電子部品7の清浄度を観察するCCDカメラ4と、このCCDカメル4からの電子部品7の半田付け部位の輝度レベルと予め設定した基準値との比較によって電子部品7の清浄度の良否判定を行う画像処理装置5及びパソコン6とを含む部品清浄度検査装置を有している。
請求項（抜粋）：
プリント基板に搭載直前の工程で電子部品の半田付け部位に対する異物付着汚れを検出しその検出値が予め設定してある基準値以下の場合に前記電子部品を前記プリント基板への搭載から排出する異物検出・排出手段を備えることを特徴とする電子部品自動搭載システム。
IPC (5件)：
H05K 13/04 ,  B23P 21/00 305 ,  G01N 21/88 ,  H05K 3/34 501 ,  H05K 13/08
FI (5件)：
H05K 13/04 Z ,  B23P 21/00 305 B ,  G01N 21/88 F ,  H05K 3/34 501 Z ,  H05K 13/08 A
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • リード検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-132811   出願人：株式会社日立製作所, 日立北海セミコンダクタ株式会社
  • 欠陥検査方法とその装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-102755   出願人：松下電器産業株式会社

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