特許
J-GLOBAL ID:200903014739605136
絶縁構造部上の半導体チャンネル
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
, 松本 晃一
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-528137
公開番号(公開出願番号):特表2007-506290
出願日: 2004年09月23日
公開日(公表日): 2007年03月15日
要約:
半導体装置基板上に貫通誘電体層を形成するステップと、貫通誘電体層の上部にトレンチ誘電体層を形成するステップと、貫通誘電体層を露出させるため、トレンチ誘電体層を貫通する溝を形成するステップと、基板を露出させるため、前記溝内の貫通誘電体層に貫通孔を形成するステップと、溝内および前記貫通孔内に半導体材料を形成するステップと、を有する方法を示した。装置基板と、該装置基板の表面に形成された誘電体層と、誘電体層上に形成された、装置基板と相間する結晶構造を有する装置基部と、を有する装置を示した。
請求項(抜粋):
半導体装置基板上に、貫通層を形成するステップと、
該貫通誘電体層上に、トレンチ層を形成するステップと、
前記貫通層を露出させるため、トレンチ層を貫通する溝を形成するステップと、
基板を露出させるため、前記溝内の貫通層に貫通孔を形成するステップと、
前記溝内および前記貫通孔内に、半導体材料を形成するステップと、
を有する方法。
IPC (7件):
H01L 21/20
, H01L 21/336
, H01L 29/786
, H01L 21/02
, H01L 27/12
, H01L 21/76
, H01L 21/762
FI (9件):
H01L21/20
, H01L29/78 627G
, H01L29/78 626C
, H01L29/78 618A
, H01L29/78 627A
, H01L27/12 E
, H01L27/12 R
, H01L21/76 E
, H01L21/76 D
Fターム (61件):
5F032AA09
, 5F032AA82
, 5F032AA91
, 5F032CA05
, 5F032CA06
, 5F032CA09
, 5F032CA10
, 5F032CA17
, 5F032DA02
, 5F032DA13
, 5F032DA23
, 5F032DA24
, 5F032DA33
, 5F032DA74
, 5F032DA78
, 5F110AA01
, 5F110AA06
, 5F110BB05
, 5F110CC02
, 5F110DD01
, 5F110DD05
, 5F110DD13
, 5F110DD14
, 5F110DD17
, 5F110DD21
, 5F110GG01
, 5F110GG02
, 5F110GG12
, 5F110GG13
, 5F110GG42
, 5F110GG44
, 5F110GG58
, 5F110PP01
, 5F110QQ19
, 5F152LL03
, 5F152LL09
, 5F152LL18
, 5F152LM02
, 5F152LM04
, 5F152LM05
, 5F152LN03
, 5F152LN08
, 5F152LN14
, 5F152LN21
, 5F152LN27
, 5F152LN32
, 5F152LN34
, 5F152LN35
, 5F152MM04
, 5F152MM19
, 5F152NN03
, 5F152NP04
, 5F152NP05
, 5F152NP06
, 5F152NP13
, 5F152NP14
, 5F152NQ03
, 5F152NQ04
, 5F152NQ05
, 5F152NQ06
, 5F152NQ12
引用特許:
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