特許
J-GLOBAL ID:200903014739605136

絶縁構造部上の半導体チャンネル

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重 ,  松本 晃一
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-528137
公開番号(公開出願番号):特表2007-506290
出願日: 2004年09月23日
公開日(公表日): 2007年03月15日
要約:
半導体装置基板上に貫通誘電体層を形成するステップと、貫通誘電体層の上部にトレンチ誘電体層を形成するステップと、貫通誘電体層を露出させるため、トレンチ誘電体層を貫通する溝を形成するステップと、基板を露出させるため、前記溝内の貫通誘電体層に貫通孔を形成するステップと、溝内および前記貫通孔内に半導体材料を形成するステップと、を有する方法を示した。装置基板と、該装置基板の表面に形成された誘電体層と、誘電体層上に形成された、装置基板と相間する結晶構造を有する装置基部と、を有する装置を示した。
請求項(抜粋):
半導体装置基板上に、貫通層を形成するステップと、 該貫通誘電体層上に、トレンチ層を形成するステップと、 前記貫通層を露出させるため、トレンチ層を貫通する溝を形成するステップと、 基板を露出させるため、前記溝内の貫通層に貫通孔を形成するステップと、 前記溝内および前記貫通孔内に、半導体材料を形成するステップと、 を有する方法。
IPC (7件):
H01L 21/20 ,  H01L 21/336 ,  H01L 29/786 ,  H01L 21/02 ,  H01L 27/12 ,  H01L 21/76 ,  H01L 21/762
FI (9件):
H01L21/20 ,  H01L29/78 627G ,  H01L29/78 626C ,  H01L29/78 618A ,  H01L29/78 627A ,  H01L27/12 E ,  H01L27/12 R ,  H01L21/76 E ,  H01L21/76 D
Fターム (61件):
5F032AA09 ,  5F032AA82 ,  5F032AA91 ,  5F032CA05 ,  5F032CA06 ,  5F032CA09 ,  5F032CA10 ,  5F032CA17 ,  5F032DA02 ,  5F032DA13 ,  5F032DA23 ,  5F032DA24 ,  5F032DA33 ,  5F032DA74 ,  5F032DA78 ,  5F110AA01 ,  5F110AA06 ,  5F110BB05 ,  5F110CC02 ,  5F110DD01 ,  5F110DD05 ,  5F110DD13 ,  5F110DD14 ,  5F110DD17 ,  5F110DD21 ,  5F110GG01 ,  5F110GG02 ,  5F110GG12 ,  5F110GG13 ,  5F110GG42 ,  5F110GG44 ,  5F110GG58 ,  5F110PP01 ,  5F110QQ19 ,  5F152LL03 ,  5F152LL09 ,  5F152LL18 ,  5F152LM02 ,  5F152LM04 ,  5F152LM05 ,  5F152LN03 ,  5F152LN08 ,  5F152LN14 ,  5F152LN21 ,  5F152LN27 ,  5F152LN32 ,  5F152LN34 ,  5F152LN35 ,  5F152MM04 ,  5F152MM19 ,  5F152NN03 ,  5F152NP04 ,  5F152NP05 ,  5F152NP06 ,  5F152NP13 ,  5F152NP14 ,  5F152NQ03 ,  5F152NQ04 ,  5F152NQ05 ,  5F152NQ06 ,  5F152NQ12
引用特許:
審査官引用 (8件)
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