特許

J-GLOBAL ID：200903015521841829

測定信号のノイズ除去方法

発明者： ハンス イリオン ,  ビョルン ハーゼ
出願人/特許権者： ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング
代理人 (3件)： 矢野 敏雄 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  ラインハルト・アインゼル
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-528293
公開番号（公開出願番号）：特表2005-534264
出願日： 2003年05月12日
公開日（公表日）： 2005年11月10日
要約：

本発明は、ノイズパルス間隔(Tst)が既知である、または検出可能であるパルス状ノイズ信号(sst)により品質劣化された測定信号(SM)のノイズ除去方法であって、個別測定値(E)の検出持続時間(ΔtE)がノイズパルス持続時間(Δtst)より小さく、複数の個別測定値(E)を測定信号(SM)の任意に選択可能な時間間隔(TE)で検出する形式の方法に関する。ノイズ源により発生するノイズを回避するために、順次連続する個別測定値(E)を少なくとも3つ、時間間隔(TE)を以て検出し、該時間間隔はノイズパルス間隔(Tst)とは異なっており、少なくとも3つの個別測定値(E)によりノイズのない測定量(M)を検出する。

請求項（抜粋）：

ノイズパルス間隔(Tst)が既知である、または検出可能であるパルス状ノイズ信号(sst)により品質劣化された測定信号(SM)のノイズ除去方法であって、 個別測定値(E)の検出持続時間(ΔtE)がノイズパルス持続時間(Δtst)より小さく、 複数の個別測定値(E)を測定信号(SM)の任意に選択可能な時間間隔(TE)で検出する形式の方法において、 順次連続する個別測定値(E)を少なくとも3つ、時間間隔(TE)を以て検出し、該時間間隔はノイズパルス間隔(Tst)とは異なっており、 少なくとも3つの個別測定値(E)によりノイズのない測定量(M)を検出する、 ことを特徴とするノイズ除去方法。

IPC (1件)：

H03K5/125

FI (1件)：

H03K5/01 D

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-132436
  
• 出力信号のサンプリング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-266976   出願人：富士通テン株式会社
• 放射パルス介在型センサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-069007   出願人：オムロン株式会社