特許
J-GLOBAL ID:200903015576597900

レール断面測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 香
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-326175
公開番号(公開出願番号):特開2001-141427
出願日: 1999年11月16日
公開日(公表日): 2001年05月25日
要約:
【要約】【課題】スリット光が分離しても測定可能なレール断面測定装置を実現。【解決手段】レール1に対して照射方向の異なる複数のスリット光13a,13bを照射するとともに、それぞれの像15a,15bを区別して撮ってレール断面像を求める。また、その区別をレーザ光と干渉フィルタとの組み合わせで行う。さらに、撮った画像データ41aに対して座標変換等の処理を施すとともに、スリット光が複数であるのに対応して座標変換パラメータ44aも複数組保持する。
請求項(抜粋):
レールに対してスリット光を照射するとともにその像を撮ってレール断面像を求めるレール断面測定装置において、前記スリット光が照射方向の異なる複数のものからなり、それぞれの像が区別して撮られることを特徴とするレール断面測定装置。
IPC (5件):
G01B 11/24 ,  B61K 9/08 ,  E01B 35/00 ,  G01B 11/245 ,  G01B 21/00
FI (5件):
B61K 9/08 ,  E01B 35/00 ,  G01B 21/00 R ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 N
Fターム (44件):
2D057AB01 ,  2F065AA52 ,  2F065AA63 ,  2F065BB11 ,  2F065CC35 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065GG03 ,  2F065GG04 ,  2F065GG21 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL08 ,  2F065LL13 ,  2F065LL15 ,  2F065LL22 ,  2F065LL28 ,  2F065LL30 ,  2F065LL53 ,  2F065LL62 ,  2F065MM07 ,  2F065MM16 ,  2F065NN06 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065TT04 ,  2F069AA24 ,  2F069AA62 ,  2F069BB25 ,  2F069DD15 ,  2F069GG07 ,  2F069JJ01 ,  2F069RR07
引用特許:
審査官引用 (7件)
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