特許
J-GLOBAL ID:200903015576597900
レール断面測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐藤 香
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-326175
公開番号(公開出願番号):特開2001-141427
出願日: 1999年11月16日
公開日(公表日): 2001年05月25日
要約:
【要約】【課題】スリット光が分離しても測定可能なレール断面測定装置を実現。【解決手段】レール1に対して照射方向の異なる複数のスリット光13a,13bを照射するとともに、それぞれの像15a,15bを区別して撮ってレール断面像を求める。また、その区別をレーザ光と干渉フィルタとの組み合わせで行う。さらに、撮った画像データ41aに対して座標変換等の処理を施すとともに、スリット光が複数であるのに対応して座標変換パラメータ44aも複数組保持する。
請求項(抜粋):
レールに対してスリット光を照射するとともにその像を撮ってレール断面像を求めるレール断面測定装置において、前記スリット光が照射方向の異なる複数のものからなり、それぞれの像が区別して撮られることを特徴とするレール断面測定装置。
IPC (5件):
G01B 11/24
, B61K 9/08
, E01B 35/00
, G01B 11/245
, G01B 21/00
FI (5件):
B61K 9/08
, E01B 35/00
, G01B 21/00 R
, G01B 11/24 K
, G01B 11/24 N
Fターム (44件):
2D057AB01
, 2F065AA52
, 2F065AA63
, 2F065BB11
, 2F065CC35
, 2F065DD06
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065FF61
, 2F065GG03
, 2F065GG04
, 2F065GG21
, 2F065HH05
, 2F065HH12
, 2F065HH14
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL08
, 2F065LL13
, 2F065LL15
, 2F065LL22
, 2F065LL28
, 2F065LL30
, 2F065LL53
, 2F065LL62
, 2F065MM07
, 2F065MM16
, 2F065NN06
, 2F065NN08
, 2F065QQ00
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065QQ42
, 2F065TT04
, 2F069AA24
, 2F069AA62
, 2F069BB25
, 2F069DD15
, 2F069GG07
, 2F069JJ01
, 2F069RR07
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開平4-086511
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特表平5-502720
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特開平4-086511
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