特許
J-GLOBAL ID：200903015700870335

故障検知システム

発明者：
佐藤 裕

佐藤 裕 について

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長洲 正浩

長洲 正浩 について

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石川 勝美

石川 勝美 について

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齋藤 隆一

齋藤 隆一 について

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稲荷田 聡

稲荷田 聡 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 特許業務法人第一国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-323829
公開番号（公開出願番号）：特開2003-134795
出願日： 2001年10月22日
公開日（公表日）： 2003年05月09日
要約：
【要約】【課題】 インバータの故障につながるような、誤動作や劣化を検知する。【解決手段】 半導体モジュールに温度センサを取り付け、温度上昇率を監視する。ハンダ層の劣化による熱抵抗の増加や、駆動回路の誤動作により、運転モードと上昇率の関係が所定の範囲を外れたら異常と判断。
請求項（抜粋）：
半導体モジュールと、前記半導体モジュールに設置された温度センス素子と、前記温度センス素子から温度を読みとる温度計測手段と、前記温度計測手段により計測した温度と半導体モジュールへの運転指令から前記半導体モジュールの劣化あるいは故障を検知する故障検知手段とを備えたことを特徴とする故障検知システム。
IPC (2件)：
H02M 1/00 ,  H02M 7/48
FI (3件)：
H02M 1/00 C ,  H02M 1/00 R ,  H02M 7/48 M
Fターム (10件)：
5H007AA05 ,  5H007CA01 ,  5H007CB05 ,  5H007DC08 ,  5H007HA04 ,  5H740AA10 ,  5H740BA11 ,  5H740BB05 ,  5H740BB08 ,  5H740MM08
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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