特許
J-GLOBAL ID：200903015763643754

粒子型流体シミュレーション方法及びその装置

発明者：
大木 滋

大木 滋 について

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松田 直子

松田 直子 について

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中 裕之

中 裕之 について

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横塚 達男

横塚 達男 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 青山 葆 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-349367
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185755
出願日： 1996年12月27日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：
【要約】【課題】 流体のミクロな表面形状そのものの算出やヌレ及びハジキに伴う現象をより正確に計算することが可能な粒子型流体シミュレーション方法及びその装置を提供する。【解決手段】 流体を仮想的な粒子に置き換えて表現し、各粒子間に働く力の相互作用を粒子間の距離をパラメータとした関数に基づいて、各粒子の位置、速度、密度、圧力、温度の経時的変化を決定する。また、粒子と固体表面との力の相互作用を固体表面と粒子間の距離をパラメータとした関数に基づいて、各粒子の位置、速度、密度、圧力、温度の経時的変化を決定することにより、上記流体と上記固体表面とのヌレ及びハジキ現象を再現することができる。
請求項（抜粋）：
流体を、連続体ではなく、各微小領域を仮想的な粒子として扱い、これらの粒子のうちの各粒子に働く力の相互作用を粒子間の距離をパラメータとした関数に基づいて、各粒子の位置の経時的変化を決定し、流体の形状の変化を再現する粒子型流体シミュレーション方法。
IPC (2件)：
G01M 9/00 ,  G06F 17/00
FI (2件)：
G01M 9/00 ,  G06F 15/20 D
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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