特許
J-GLOBAL ID:200903016085188460

残留塩素濃度計

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-232440
公開番号(公開出願番号):特開2008-058025
出願日: 2006年08月29日
公開日(公表日): 2008年03月13日
要約:
【課題】測定精度が従来よりも経時的に不安定となっていき難い残留塩素濃度計を提供しようとするもの。【解決手段】残留塩素濃度測定用の作用極1と対電極2とを有し、前記作用極1に対面させて対向電極4を配設し、作用極1に付着した酸化皮膜のクリーニング時には前記作用極1が負に対向電極4が正になるように印加すると共に、前記作用極4の表面に形成された酸化皮膜の酸素と被検液中の水素イオンとにより水を生成させるように電流を流して電気分解するようにした。【選択図】図1
請求項(抜粋):
残留塩素濃度測定用の作用極(1)と対電極(2)とを有し、前記作用極(1)に対面させて対向電極(4)を配設し、作用極(1)に付着した酸化皮膜のクリーニング時には前記作用極(1)が負に対向電極(4)が正になるように印加すると共に、前記作用極(1)の表面に形成された酸化皮膜の酸素と被検液中の水素イオンとにより水を生成させるように電流を流して電気分解するようにしたことを特徴とする残留塩素濃度計。
IPC (2件):
G01N 27/38 ,  G01N 27/416
FI (2件):
G01N27/38 ,  G01N27/46 316Z
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 残留塩素測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-125548   出願人:株式会社イワキ
審査官引用 (9件)
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