特許
J-GLOBAL ID：200903016146686060
周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-319941
公開番号（公開出願番号）：特開2001-143655
出願日： 1999年11月10日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
要約：
【要約】【課題】 周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置であってイオンの入出射を容易に行うことのできる飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】 複数の扇形電場によって閉軌道を構成し、イオンが閉軌道を周回可能とする。この周回軌道上にリフレクトロンが配置される。リフレクトロンは、作動させないときに周回軌道を進行するイオンが通過できる様な通過口を有する。リフレクトロンにより周回軌道から取り出されたイオンを検出するためのイオン検出器が設けられる。
請求項（抜粋）：
周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置であって、周回軌道上にリフレクトロンを配置し、該リフレクトロンを用いて周回軌道を進むイオンを軌道外部へ取り出して検出し得るように構成すると共に、該リフレクトロンを動作させない時に周回軌道を進むイオンが該リフレクトロンを通過できるように構成したことを特徴とする周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/40
, G01N 27/62
, H01J 49/06
H01J 49/40
, G01N 27/62 K
, H01J 49/06
5C038FF04
, 5C038FF10
, 5C038FF13
