特許
J-GLOBAL ID：200903016414162516

レーザ顕微鏡

発明者：
鈴木 基彦

鈴木 基彦 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-301443
公開番号（公開出願番号）：特開2002-107635
出願日： 2000年09月29日
公開日（公表日）： 2002年04月10日
要約：
【要約】【課題】 標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができ、最適な条件下での観察を行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。【解決手段】 極短パルスレーザ光源1から発せられる極短パルスレーザビームを光路に対して切換え可能な対物レンズ12などの光学部材を介して標本13に照射するレーザ顕微鏡であって、光路に挿入された対物レンズ12の種類を認識すると、予め対物レンズ12などに対応させて記憶装置22に記憶した分散データまたはチャープ量に基づいて標本13面での極短パルスレーザビームのパルス幅が短く、望ましくは最短になるようにプレチャープコンペンセーション調整装置14による極短パルスレーザのパルス幅の調整を制御する。
請求項（抜粋）：
レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームを、光路に対して挿脱可能な光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記光路に挿入された光学部材の種類を認識する光学部材認識手段と、前記光学部材に対応させた分散データまたはチャープ量を記憶した記憶手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記光学部材認識手段により認識された前記光学部材に対応する分散データまたはチャープ量を前記記憶手段から読み込み、読み込んだ分散データまたはチャープ量に基づいて前記標本面での前記極短パルスレーザビームのパルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による前記極短パルスレーザビームのパルス幅の調整を制御する制御手段とを具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。
IPC (5件)：
G02B 21/06 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/64 ,  H01S 3/00 ,  H01S 3/10
FI (5件)：
G02B 21/06 ,  G01N 21/27 E ,  G01N 21/64 E ,  H01S 3/00 F ,  H01S 3/10 Z
Fターム (35件)：
2G043AA03 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA02 ,  2G043GB18 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA06 ,  2G059AA05 ,  2G059EE07 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059KK02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC26 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  5F072HH07 ,  5F072KK05 ,  5F072SS08
引用特許：
審査官引用 (5件)
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