特許
J-GLOBAL ID:200903016441274946
偽造防止構造体及び真贋判別装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (8件):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-098624
公開番号(公開出願番号):特開2008-254310
出願日: 2007年04月04日
公開日(公表日): 2008年10月23日
要約:
【課題】存在を知覚出来ず入手困難な識別装置でのみ識別が可能であり偽造困難な偽造防止構造体、この構造体と組み合わされて使用される真贋判別装置を提供することである。【解決手段】偽造防止構造体10は、テラヘルツ電磁波が透過する基材12、基材の一面に設けられ上記電磁波が透過する非導電性隠蔽層14、基材の反対側の隠蔽層の一面の所定位置に設けられ隠蔽層で隠蔽され上記電磁波が透過する所定パターン配列の開口を有する導電性層16、隠蔽層の上記一面に設けられ上記電磁波が透過する接着層18、を備える。導電性層は上記電磁波の透過により上記パターンに対応した所定の基準値を生じさせる。真贋判別装置は、テラヘルツ電磁波発生手段からの電磁波を照射手段により物体に照射し、上記物体を透過した電磁波を対応した測定値に変換手段で変換し、前記構造体からの所定の基準値との差異の有無を判定し、有無のいずれかの場合に警報を発生する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
テラヘルツ電磁波が透過される基材と;
基材の一面に設けられ、非導電性であり、テラヘルツ電磁波が透過される隠蔽層と;
基材とは反対側の隠蔽層の一面の所定の位置に設けられ、隠蔽層により隠蔽され、テラヘルツ電磁波が透過される所定のパターンに配列された開口を有する導電性層と;
隠蔽層の上記一面に設けられ、テラヘルツ電磁波が透過される接着層と、
を備えていて、
導電性層はテラヘルツ電磁波が透過されることにより上記テラヘルツ電磁波から上記所定のパターンに対応した所定の測定値を生じさせる、
ことを特徴とする偽造防止構造体。
IPC (3件):
B42D 15/10
, G07D 7/06
, G09F 3/00
FI (4件):
B42D15/10 531B
, B42D15/10 501P
, G07D7/06
, G09F3/00 M
Fターム (18件):
2C005HA02
, 2C005HB10
, 2C005HB12
, 2C005HB13
, 2C005JB08
, 2C005JB09
, 2C005KA01
, 2C005KA08
, 2C005KA09
, 2C005KA37
, 2C005KA70
, 2C005LB01
, 3E041AA01
, 3E041BA14
, 3E041BB10
, 3E041BC01
, 3E041CA10
, 3E041CB03
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)