特許
J-GLOBAL ID:200903017372077234
保護シート剥離方法および装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小橋川 洋二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-106827
公開番号(公開出願番号):特開2001-291762
出願日: 2000年04月07日
公開日(公表日): 2001年10月19日
要約:
【要約】【課題】 粘着剤が半導体ウェハに残らないように保護シートをきれいに剥離する。【解決手段】 半導体ウェハWにおいて図5に示すように半導体チップの回路パターン51が形成されているとき、矢印52に示すように、回路パターン51の辺51aの部分から剥がして行くと回路パターン51の辺51aの部分に保護シートの粘着剤が残ることがある。そこで、矢印55で示すように、回路パターン51の角部51bから保護シートを剥離するよう剥離方向を設定する。そうすれば辺51aに粘着剤が残ることはなく、きれいに保護シートを剥離することができる。
請求項(抜粋):
回路パターンが形成された半導体ウェハに貼付された保護シートを剥離する方法において、前記保護シートを回路パターンの角部から剥がすことを特徴とする保護シート剥離方法。
IPC (3件):
H01L 21/68
, H01L 21/304 622
, H01L 21/304
FI (3件):
H01L 21/68 N
, H01L 21/304 622 J
, H01L 21/304 622 L
Fターム (13件):
5F031CA02
, 5F031DA15
, 5F031HA13
, 5F031HA57
, 5F031HA59
, 5F031JA05
, 5F031JA15
, 5F031JA28
, 5F031JA33
, 5F031KA08
, 5F031KA12
, 5F031MA22
, 5F031MA38
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開平2-125440
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特開平2-125440
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半導体ウェハダイシングのテープ剥離装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-201826
出願人:日本電気株式会社
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特開平2-125440
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特開平2-125440
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マスクパターン検証方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-003843
出願人:富士通株式会社
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特開平3-103980
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