特許

J-GLOBAL ID：200903017863215736

X線異物検査装置

発明者： 花見 英徳 ,  平野 隆英 ,  木村 隆夫
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 竹本 松司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-349000
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183407
出願日： 1997年12月18日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：

【要約】【課題】 X線異物検査装置のメンテナンスを容易に行う。【解決手段】 X線によって被検査物の異物検査を行うX線異物検査装置1において、一方の端部を自由端とし他方の端部を支持端とする片持ちのフレーム10を備え、この片持ちフレームによって少なくとも被検査物を移動する搬送機構3を支持する構成とする。片持ちのフレーム構成とすることによって、X線異物検査装置1の側面部分や底面部分に、支持のための脚部材が存在しない構成とすることができ、支持脚に干渉することなく工具や交換部品をX線異物検査装置内に挿入することができ、搬送用のベルト33やX線検出器等の補修,清掃,あるいは部品交換等のメンテナンスを容易に行うことができる。

請求項（抜粋）：

X線によって被検査物の異物検査を行うX線異物検査装置において、一方の端部を自由端とし他方の端部を支持端とする片持ちフレームを備え、該片持ちフレームによって少なくとも被検査物を移動する搬送機構を支持するX線異物検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/18 ,  G01N 23/04

FI (2件)：

G01N 23/18 ,  G01N 23/04

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 異物検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-057715   出願人：東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-238772   出願人：株式会社日立ビルシステムサービス
• 自動計量コンベヤ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-139563   出願人：株式会社イシダ