特許

J-GLOBAL ID：200903018069766414

放射線撮像装置及びシステム

発明者： 梶原 賢治 ,  高見 栄一 ,  横川 知道
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-180256
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116261
出願日： 2001年06月14日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：

【要約】【課題】 放射線撮像装置及びシステムを軽量化する。【解決手段】 放射線を電気信号に変換して撮像する撮像素子と、前記撮像素子に電気的に接続され、該撮像素子への入力信号を制御する回路或いは該撮像素子からの出力信号を処理する回路のうち少なくともいずれか一方を備えた回路基板と、前記回路基板に設けられ、前記回路を構成している能動素子と、前記能動素子への前記放射線の入射を妨げる放射線遮蔽部材とを備えた放射線撮像装置において、前記放射線遮蔽部材は、その面積が前記回路基板の面積より小さいことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

放射線を電気信号に変換して撮像する撮像素子と、前記撮像素子に電気的に接続され、該撮像素子への入力信号を制御する回路或いは該撮像素子からの出力信号を処理する回路のうち少なくともいずれか一方を備えた回路基板と、前記回路基板に設けられ、前記回路を構成している能動素子と、前記能動素子への前記放射線の入射を妨げる放射線遮蔽部材とを備えた放射線撮像装置において、前記放射線遮蔽部材は、その面積が前記回路基板の面積より小さいことを特徴とする放射線撮像装置。

IPC (7件)：

G01T 7/00 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/24 ,  H01L 27/14 ,  H01L 31/09 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/335

FI (7件)：

G01T 7/00 A ,  G01T 1/20 E ,  G01T 1/24 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/335 U ,  H01L 31/00 A ,  H01L 27/14 K

Fターム (47件)：

2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088GG20 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ29 ,  2G088JJ33 ,  2G088JJ36 ,  2G088JJ37 ,  4M118AA10 ,  4M118AB01 ,  4M118AB10 ,  4M118BA04 ,  4M118BA05 ,  4M118BA10 ,  4M118BA14 ,  4M118CB02 ,  4M118CB11 ,  4M118FA06 ,  4M118FA08 ,  4M118FB08 ,  4M118FB09 ,  4M118GA10 ,  4M118GB04 ,  4M118HA21 ,  4M118HA25 ,  4M118HA26 ,  5C024AX11 ,  5C024AX12 ,  5C024AX16 ,  5C024CY04 ,  5C024CY47 ,  5C024CY50 ,  5C024EX21 ,  5F088AA09 ,  5F088AB05 ,  5F088BA13 ,  5F088BB04 ,  5F088BB07 ,  5F088EA04 ,  5F088JA16 ,  5F088KA03 ,  5F088KA08 ,  5F088LA07 ,  5F088LA08

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 光電変換装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-027838   出願人：キヤノン株式会社
• 半導体装置及び光検出装置の製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-268628   出願人：キヤノン株式会社
• X線を用いた計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-177552   出願人：株式会社日立メディコ
• 撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-241562   出願人：キヤノン株式会社