特許
J-GLOBAL ID：200903018118665874

光走査の走査補正方法および走査結像光学系および光走査装置および画像形成装置

発明者：
川村 篤

川村 篤 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 樺山 亨 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-287377
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098463
出願日： 2001年09月20日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：
【要約】【課題】大容量のメモリを用いること無く、リニアリティの電気的な補正を良好に行う。【解決手段】有効走査領域を、残存リニアリティに従って複数のブロックに分割し、各ブロック内における残存リニアリテイの変化量が所望の大きさ以下となるようにするとともに、1ドットに対応する画素クロックの時間幅を、基準時間幅:Tに対してT/N(Nは、2以上の所定の自然数)を単位として、基準時間幅:Tと異なる時間幅を持ち、1画素単位で変更可能な補正用画素クロックを生成可能とし、補正用画素クロックの数とその発生の規則を各ブロックごとに定め、各ブロックに対し、上記規則に従い、画素クロックの時間幅を変更することにより、各ブロックでのリニアリティが各ブロックにおいて、所望の所定量より小さくなるように補正する。
請求項（抜粋）：
光源側からの光束を光偏向器により等角速度的に偏向させ、偏向光束を、リニアリティの残存する走査結像光学系により被走査面に向って集束させ、上記被走査面上に光スポットを形成し、上記被走査面を光走査する光走査装置において、走査結像光学系に残存するリニアリティに起因する光走査の不均一を近似的に補正する方法であって、有効走査領域を、残存リニアリティに従って複数のブロックに分割し、各ブロック内における残存リニアリテイの変化量が所望の大きさ以下となるようにするとともに、1ドットに対応する画素クロックの時間幅を、基準時間幅:Tに対してT/N(Nは、2以上の所定の自然数)を単位として、基準時間幅:Tと異なる時間幅を持ち、1画素単位で変更可能な補正用画素クロックを生成可能とし、上記補正用画素クロックの数とその発生の規則を各ブロックごとに定め、各ブロックに対し、上記規則に従い、画素クロックの時間幅を変更することにより、各ブロックでのリニアリティが各ブロックにおいて、所望の所定量より小さくなるように補正することを特徴とする、光走査の走査補正方法。
IPC (5件)：
G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  G02B 13/00 ,  H04N 1/036 ,  H04N 1/113
FI (6件)：
G02B 26/10 Z ,  G02B 26/10 E ,  G02B 13/00 ,  H04N 1/036 Z ,  B41J 3/00 D ,  H04N 1/04 104 Z
Fターム (44件)：
2C362BA04 ,  2C362BB03 ,  2C362BB23 ,  2H045CA68 ,  2H045CA99 ,  2H087KA19 ,  2H087LA22 ,  2H087PA02 ,  2H087PA17 ,  2H087PB02 ,  2H087QA03 ,  2H087QA07 ,  2H087QA12 ,  2H087QA21 ,  2H087QA34 ,  2H087QA41 ,  2H087RA05 ,  2H087RA12 ,  2H087RA13 ,  2H087UA01 ,  5C051AA02 ,  5C051CA07 ,  5C051DB02 ,  5C051DB07 ,  5C051DB22 ,  5C051DB24 ,  5C051DB30 ,  5C051DC02 ,  5C051DC03 ,  5C051DC04 ,  5C051DC05 ,  5C051DE05 ,  5C051DE11 ,  5C051EA01 ,  5C051FA01 ,  5C072AA03 ,  5C072HA02 ,  5C072HA09 ,  5C072HA13 ,  5C072HB06 ,  5C072QA14 ,  5C072UA17 ,  5C072XA01 ,  5C072XA05
引用特許：
審査官引用 (7件)
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