特許
J-GLOBAL ID:200903018645189886

要素領域の応力波検出装置及びその検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 富崎 元成 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-136439
公開番号(公開出願番号):特開平11-326078
出願日: 1998年05月19日
公開日(公表日): 1999年11月26日
要約:
【要約】【目的】電気雑音が多い場所に置かれる物体の劣化の測定。【構成】測定対象10,20の局所領域に照射されるレーザービーム1、2の入熱により応力を内部に発生させ、測定対象の表面の速度スペクトラムを反射レーザー1,2のドップラー干渉から測定する。その速度スペクトラムの標本列を作成しておいて、材料の劣化を推定する。測定対象は例えば陽子照射を受けて大量の中性子を発生させる発生源として用いられる水銀を封入する容器殻である。照射レーザーは、測定用、入熱用として兼用されることができる。
請求項(抜粋):
固体状物体の局所的な要素領域の面に第1レーザービームを照射して前記要素領域に熱エネルギーを供給するための第1照射手段と、前記要素領域の前記面に第2レーザービームを照射して前記要素領域の前記面の運動速度を検出するための第2照射手段と、前記要素領域の前記面から反射する前記第2レーザービームを受けて前記運動速度をドップラー効果により検出するためのドップラー干渉計とからなる要素領域の応力波検出装置。
IPC (2件):
G01L 1/00 ,  G01N 29/00 501
FI (2件):
G01L 1/00 A ,  G01N 29/00 501
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 超音波検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-115171   出願人:新日本製鐵株式会社
引用文献:
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