特許
J-GLOBAL ID:200903018649203514

可変抵抗素子および抵抗変化型メモリ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 布施 行夫 ,  大渕 美千栄 ,  伊奈 達也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-200638
公開番号(公開出願番号):特開2008-028228
出願日: 2006年07月24日
公開日(公表日): 2008年02月07日
要約:
【課題】抵抗変化型メモリ装置(RRAM)に適用できる新規な可変抵抗素子を提供すること。【解決手段】可変抵抗素子10は、第1電極12と、前記第1電極12の上に形成された抵抗体層14と、前記抵抗体層14の上に形成された第2電極16と、を含む。前記抵抗体層14は、酸素欠陥を有する遷移金属酸化物からなる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1電極と、 前記第1電極の上に形成された抵抗体層と、 前記抵抗体層の上に形成された第2電極と、 を含み、 前記抵抗体層は、酸素欠陥を有する遷移金属酸化物からなる、可変抵抗素子。
IPC (5件):
H01L 27/10 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04 ,  H01L 45/00 ,  H01L 49/00
FI (4件):
H01L27/10 451 ,  H01L27/04 V ,  H01L45/00 Z ,  H01L49/00 Z
Fターム (10件):
5F038AV07 ,  5F038AV17 ,  5F038DF05 ,  5F038EZ20 ,  5F083FZ10 ,  5F083JA38 ,  5F083JA43 ,  5F083JA45 ,  5F083MA06 ,  5F083MA19
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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