特許
J-GLOBAL ID:200903018787588508

圧力波形分析を用いて閉塞をモニタする方法と装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 浅村 皓 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-522862
公開番号(公開出願番号):特表2000-503249
出願日: 1997年11月10日
公開日(公表日): 2000年03月21日
要約:
【要約】圧力波形分析を用いて流れ回路内の閉塞をモニタする方法と装置である。該流れ回路は、第1導管と、流体供給源を第1導管と流体流通させる第2導管とを含んでいる。第2導管の中間部分には、ポンプが配置されている。第1導管内の圧力をモニタする作業が、ポンプ・流体供給源間に延在する第2導管部分内の閉塞を確認することに利用される。
請求項(抜粋):
流れ回路内の導管の閉塞をモニタする方法であって、前記流れ回路が、流れの貫流する第1導管と、流体供給源と、該流体供給源と第1箇所、すなわち前記第1導管が第2導管と流体連通している箇所との間に延在する第2導管と、前記第1箇所と前記流体供給源との間に配置され、前記第2導管に接続されたポンプとを含んでいる形式のものにおいて、前記方法が次の段階、すなわち、 前記ポンプを用いて、前記流体供給源から前記第2導管を介して流体を吸い出し、前記第1導管へ送る段階と、 第2箇所で前記第1導管内の圧力をモニタする段階と、 前記流体供給源と前記ポンプとの間に延在する前記第2導管のどこかに生じた閉塞を、前記圧力をモニタする段階を用いてモニタする段階とを含んでいる、流れ回路内の導管の閉塞をモニタする方法。
IPC (2件):
A61M 1/36 ,  A61M 5/00 335
FI (2件):
A61M 1/36 ,  A61M 5/00 335
引用特許:
審査官引用 (2件)

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