特許
J-GLOBAL ID:200903018873512417
光波測距装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
土井 健二 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-030080
公開番号(公開出願番号):特開平10-227857
出願日: 1997年02月14日
公開日(公表日): 1998年08月25日
要約:
【要約】【課題】パルス光の送光に伴う迷光による反射パルス光が検出されて、測定誤差が発生するのを防止する。【解決手段】パルス光を測距光路に送光する送光手段3と、反射してくるパルス光を受光する受光手段4と、送光時から受光時までの時間を計測する信号処理部1,2,6とを有し、信号処理部は、前記パルス光の送光に応答して1個の反射パルス光が検出される第一の状態か、前記パルス光の送光に応答して2個の反射パルス光が検出される第二の状態かを判定する。そして、信号処理部は、第一の状態の時は送光時から1個目の反射パルス光を受光するまでの時間を計測し、第二の状態の時は送光時から2個目の反射パルス光を受光するまでの時間を計測する。
請求項(抜粋):
パルス光を送光する送光手段と、反射パルス光を受光する受光手段と、前記送光時から受光時までの時間を計測する信号処理部とを有し、該信号処理部は、前記パルス光の送光に応答して、迷光による反射パルス光を伴わずに被測定物からの反射パルス光が検出される第一の状態か、迷光による反射パルス光を伴って該被測定物からの反射パルス光が検出される第二の状態かを判定し、前記第一の状態の時は送光時から当該被測定物からの反射パルス光を受光するまでの時間を計測し、前記第二の状態の時は迷光による反射パルス光を無視して送光時から当該被測定物からの反射パルス光を受光するまでの時間を計測することを特徴とする光波測距装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01S 17/10
, G01B 11/00 B
引用特許:
審査官引用 (3件)
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距離測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-159216
出願人:日本電装株式会社
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特開昭60-201276
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レーザ測遠機
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-202075
出願人:日本電気株式会社
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