放射性表面汚染検出器

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：吉田研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-016054
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225279
出願日： 1994年02月10日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：

【要約】【目的】被測定物が凹凸を有する場合や被測定物と放射性表面汚染検出器の検出部との距離を一定に保つことができない場合でも一定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を表示することのできる放射性表面汚染検出器を提供する。【構成】プローブ14によって被測定物の表面に付着した放射性物質から放射される放射線を測定し、同時に距離検出器24によって被測定物とプローブ14との距離を検出する。そして、汚染度換算部26はプローブ14によって測定された測定値を距離検出器24によって検出された距離に基づいて被測定物に対して所定距離から測定した放射線汚染度に換算する。従って、プローブ14と被測定物との相対する距離が変動した場合でも一定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を測定することができる。

請求項（抜粋）：

被測定物の表面に付着した放射性物質から放射される放射線を測定する放射線測定器と、被測定物と放射線測定器との距離を検出する距離検出器と、前記放射線測定器で測定した測定結果を前記距離検出器で検出された距離に基づいて被測定物に対する所定距離から測定した放射線汚染度に換算する汚染度換算部と、を有することを特徴とする放射性表面汚染検出器。

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開平3-092788
特開平3-092788
特開昭62-297775

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