特許
J-GLOBAL ID：200903019438790991
水分量測定装置及び水分量測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (3件)：
萩原 康司
, 金本 哲男
, 亀谷 美明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-100103
公開番号（公開出願番号）：特開2009-250819
出願日： 2008年04月08日
公開日（公表日）： 2009年10月29日
要約：
【課題】粉粒体の種類、状態、及び配合割合の変動にも柔軟に対応でき、短い測定時間で、高精度に試料の水分率を測定できる技術を提供する。【解決手段】試料8を乾燥させるために加熱する試料加熱部4と、一定の乾燥温度に制御する加熱用コントロ-ラ2と、試料8を秤量して連続的又は断続的に質量値mを出力する試料秤量部5と、連続的又は断続的に出力された一連且つ所定の期間の有限個の質量値mに基づいて、試料が含んでいた水分量又は水分率を算出する秤量データ処理部9とを具備し、秤量データ処理部9は、一連且つ所定の期間の有限個の質量値mを用いて、試料8が完全に乾燥するまでの質量値mの減少の時間推移、又は質量値mの時間変化量Δmの時間推移を所定の予測演算で予測して、測定前に試料が含んでいた水分量又は水分率を推定して算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
水分を含んだ粉粒体を試料として、該試料を乾燥室内で乾燥させながら試料の質量値の時間推移を測定して、前記試料が含む水分量又は水分率を測定する水分量測定装置であって、
前記試料を乾燥させるために加熱する試料加熱部と、
前記乾燥室内の雰囲気温度又は試料表面の温度を測定する温度測定部と、
前記温度測定部で測定された温度に基づいて、雰囲気温度又は試料表面の温度を所定の乾燥温度になるようにフィードバック制御する加熱用コントローラ部と、
前記試料を秤量して連続的又は断続的に質量値を出力する試料秤量部と、
前記試料、前記試料加熱部及び前記試料秤量部を収納する筐体と、
前記連続的又は断続的に出力された一連且つ所定の期間の有限個の質量値に基づいて、前記試料が含んでいた水分量又は水分率を算出する秤量データ処理部と、を具備し、該秤量データ処理部は、前記一連且つ所定の期間の有限個の質量値を用いて、前記試料が完全に乾燥するまでの質量値の減少の時間推移、又は質量値の時間変化量の時間推移を所定の予測演算で予測して、測定前に試料が含んでいた水分量又は水分率を推定して算出する水分量測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (9件)：
2G040BA29
, 2G040CA03
, 2G040CA16
, 2G040CB09
, 2G040DA02
, 2G040DA05
, 2G040EA02
, 2G040EB02
, 2G040EC07
出願人引用 (10件)
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特開昭54-24695号公報
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実開昭59-149046号公報
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水分測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平7-028234
出願人：株式会社島津製作所, 住友金属工業株式会社
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審査官引用 (7件)
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