マニュアル的にコントロールされる座標測定機による加工物の測定法および座標測定機

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：矢野敏雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-246492
公開番号（公開出願番号）：特開平8-105738
出願日： 1995年09月25日
公開日（公表日）： 1996年04月23日
要約：

【要約】【構成】この方法は、マニュアル的にコントロールされる座標測定機による加工物の測定のために用いられる。この座標測定機は、複数個の空間方向へ運動可能に支承された、走査器のための支持体を有する。この支持体はは変位可能な走査ピンに接触走査体(走査球)を支持している。この接触走査体は測定されるべき、加工物の幾何学的要素と接触され、常に接触した状態でこの加工物に沿って案内される。走査器の運動の際に発生される、座標測定装置の信号から、および/または走査ピンの変位の際に発生される、走査器の測定値発信器の信号から制御信号が導出される。この制御信号は、幾何学的要素における測定過程の開始および終了を、または座標測定値有効性を特徴づける。

請求項（抜粋）：

マニュアル的にコントロールされる座標測定機による加工物の測定法であって、該座標測定機は、複数個の空間方向へ可動に支承された、走査器(10)のための支持体(7)を有し、該支持体は変位可能な走査ピン(11)において触知成形査体(走査球12)を支持している形式の前記の測定法において、該接触走査体(12)を、測定されるべき、加工物の幾何学的要素(31,32,33)と接触させ、支持体(7)の運動の際に発生される、座標測定装置の信号(φ,ψ,Z)から、および/または走査ピン(11)の変位の際に発生される、走査器(10)の測定値発信器(13a,13b,23)の信号(U,V,W)から制御信号(80〜84)を導出し、該制御信号は、幾何学的要素における測定過程の開始および終了を、または座標測定値(X,Y,Z)の有効性を示すことを特徴とする、マニュアル的にコントロールされる座標測定機による加工物の測定法。

引用特許：

審査官引用 (12件)

多次元座標測定機の自動停止機構
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-229006 出願人：株式会社東京精密
特開平3-185308
座標測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-306130 出願人：カール・ツアイス

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