特許
J-GLOBAL ID:200903020028553850
p型半導体酸化亜鉛膜の製造方法、及び透明基板を使用したパルスレーザ堆積方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
三好 秀和
, 伊藤 正和
, 原 裕子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-024358
公開番号(公開出願番号):特開2007-288141
出願日: 2007年02月02日
公開日(公表日): 2007年11月01日
要約:
【課題】p型の半導体酸化亜鉛(ZnO)膜と、この膜の製造方法を提供する。【解決手段】パルスレーザ堆積法(PLD)を使用してp型ZnO材料を成膜させる。この方法では、LiとPの両方を含有する化合物とZnOとの混合物からなる固体ターゲット上にパルスレーザビームを集光させる。集光されたレーザパルスの高いパワー密度により、ターゲット表面上の材料が融除されてプラズマが形成され、これが基板表面上に堆積する。また、パルスレーザ源を含んだ透明な基板と、パルスレーザの波長に対し透明である基板と、マルチターゲットシステムとを使用するパルスレーザ成膜プロセスについて説明する。パルスレーザの光路は、パルスレーザが基板の裏から入射して基板を通過し、ターゲット上に集光するように配置されている。基板をターゲットに向かって並進運動させ、アブレーションプルームのルートを利用した微細パターンの付着が可能になる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
リン及びアルカリ金属元素を含有するp型ZnO膜を製造する装置であって、
亜鉛、酸素、リン、前記アルカリ金属元素からなるターゲット材料と、基板とを収容する真空室と、
高温蒸気及び/又はプラズマを生成し、前記基板上に付着して膜を形成するために、前記ターゲット材料を蒸発又は融除する高エネルギー源と、
前記p型ZnO膜を製造するべく、前記膜を熱処理するための熱源とを備えることを特徴とする装置。
IPC (4件):
H01L 21/363
, C23C 14/28
, H01S 3/00
, G02B 1/10
FI (4件):
H01L21/363
, C23C14/28
, H01S3/00 A
, G02B1/10 Z
Fターム (37件):
2K009AA15
, 2K009CC03
, 2K009DD03
, 2K009DD04
, 2K009DD17
, 4K029AA06
, 4K029AA09
, 4K029AA24
, 4K029BA49
, 4K029BC00
, 4K029BD00
, 4K029CA01
, 4K029DB20
, 5F103AA01
, 5F103AA10
, 5F103BB08
, 5F103BB13
, 5F103BB16
, 5F103BB19
, 5F103BB23
, 5F103BB37
, 5F103BB48
, 5F103DD30
, 5F103HH03
, 5F103HH04
, 5F103HH10
, 5F103JJ01
, 5F103KK05
, 5F103KK10
, 5F103NN01
, 5F103NN02
, 5F103NN05
, 5F103PP03
, 5F103PP18
, 5F103PP20
, 5F172AD05
, 5F172ZZ20
引用特許:
出願人引用 (9件)
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p型ZnO単結晶およびその製造方法
公報種別:再公表公報
出願番号:JP1999005581
出願人:ローム株式会社
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国際公開第WO 05076341号パンフレット
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米国特許出願公開第2005/0170971号明細書
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審査官引用 (4件)