特許
J-GLOBAL ID:200903020592800485
放射線測定器
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
白浜 吉治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-252396
公開番号(公開出願番号):特開2006-071338
出願日: 2004年08月31日
公開日(公表日): 2006年03月16日
要約:
【課題】放射線の強度が弱い場合や汚染範囲が小さい場合でも、測定対象物から放出される放射線を確実に検出することができる放射線測定器を提供する。【解決手段】放射線測定器の演算部21は、第1積算値を第1計測時間で除して第1計数率を算出する第1計数率算出手段と、第1計測時間に対応したバックグラウンド放射線とみなす第1検出限界値を所定の信頼度に基づいて算出する第1検出限界値算出手段と、第2積算値を第2計測時間で除して第2計数率を算出する第2計数率算出手段と、第2計測時間に対応したバックグラウンド放射線とみなす第2検出限界値を第1検出限界値よりも高い信頼度に基づいて算出する第2検出限界値算出手段とを有する。演算部21は、第1計数率が第1検出限界値以上であるときに表示部22に第1警告信号を発信させ、第2計数率が第2検出限界値以上であるときに表示部22に第2警告信号を発信させる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
測定対象物から放出される放射線を時系列で検出し、検出した前記放射線を電気的なパルスに変換する検出部と、前記検出部から入力された前記パルスに基づいて前記放射線の計数率を算出する演算部と、前記測定対象物における放射能汚染を外部に警告する表示部とを備えた放射線測定器において、
前記演算部が、所定の第1計測時間(秒単位)に基づいて前記パルスを集計して第1積算値を順次算出し、前記第1積算値を前記第1計測時間で除して第1計数率を順次算出する第1計数率算出手段と、前記第1計測時間に対応したバックグラウンド放射線とみなす第1検出限界値を確率分布における所定の信頼度に基づいて算出する第1検出限界値算出手段と、前記第1計測時間よりも長い所定の第2計測時間(秒単位)に基づいて前記パルスを集計して第2積算値を順次算出し、前記第2積算値を前記第2計測時間で除して第2計数率を順次算出する第2計数率算出手段と、前記第2計測時間に対応したバックグラウンド放射線とみなす第2検出限界値を前記第1検出限界値よりも高い信頼度に基づいて算出する第2検出限界値算出手段とを有し、
前記演算部は、前記第1計数率と前記第1検出限界値とを比較し、前記第1計数率が前記第1検出限界値以上であるときに前記表示部に第1警告信号を発信させ、前記第2計数率と前記第2検出限界値とを比較し、前記第2計数率が前記第2検出限界値以上であるときに前記表示部に第2警告信号を発信させることを特徴とする前記放射線測定器。
IPC (2件):
FI (3件):
G01T1/17 A
, G01T1/17 D
, G01T1/169 A
Fターム (9件):
2G088EE11
, 2G088EE17
, 2G088FF04
, 2G088FF05
, 2G088KK11
, 2G088KK13
, 2G088KK24
, 2G088LL02
, 2G088MM09
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (4件)
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放射性表面汚染計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-304064
出願人:アロカ株式会社
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特開昭64-088177
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放射線測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-327216
出願人:矢崎総業株式会社
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