特許
J-GLOBAL ID:200903021411913727

金属材料中の介在物検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岸田 正行 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-053993
公開番号(公開出願番号):特開2001-242146
出願日: 2000年02月29日
公開日(公表日): 2001年09月07日
要約:
【要約】【課題】 最近の冶金技術の向上に対応し、鋼などの金属材料の清浄度の大幅な改善に対応した、迅速で精度の高い金属材料中の介在物の検出方法を提供することを課題とする。【解決手段】 所定の探傷走査ピッチで検査試料中の非金属介在物の少なくとも位置および数を検出する超音波探傷(粗探傷)を行った後、前記粗探傷よりも探傷走査ピッチを狭くして前記粗探傷により検出された非金属介在物の大きさを検出する超音波探傷(精密探傷)を行い、得られた介在物の数、位置、粒径などを検出する。
請求項(抜粋):
超音波探傷により金属材料中の非金属介在物を検出する方法であって、所定の探傷走査ピッチで検査試料中の非金属介在物の少なくとも位置および数を検出する粗探傷を行った後、前記粗探傷よりも探傷走査ピッチを狭くして前記粗探傷により検出された非金属介在物の大きさを検出する精密探傷を行うことを特徴とする、金属材料中の介在物検出方法。
IPC (2件):
G01N 29/10 501 ,  G01N 29/22 506
FI (2件):
G01N 29/10 501 ,  G01N 29/22 506
Fターム (12件):
2G047AA07 ,  2G047BA03 ,  2G047BB01 ,  2G047BC03 ,  2G047BC04 ,  2G047BC10 ,  2G047BC12 ,  2G047DA01 ,  2G047DB10 ,  2G047EA10 ,  2G047GG33 ,  2G047GG42
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献:
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