特許
J-GLOBAL ID：200903021420236959
飛行時間型質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-095673
公開番号（公開出願番号）：特開2006-278145
出願日： 2005年03月29日
公開日（公表日）： 2006年10月12日
要約：
【課題】 出射軌道の飛行距離を変化させて2回の測定を行っても、試料成分が多数ある場合には飛行時間スペクトル上でピークが混在して同一種イオン由来のピークの判別が困難になる。 【解決手段】 データ処理部では、分析条件を変えて実行した2回の測定による飛行時間スペクトル上のピークの中心時間を比較して同一種イオン由来のピークを探す(S3)。その処理で判別不能なピークが存在した場合には(S4でN)、今度はピーク形状(例えばピーク半値幅)の類似性により同一種イオン由来のピークを探す(S5)。そして、全てのピークの対応関係が明確になったならば、飛行時間の差から各イオンの質量数を概算し(S6)、その概算値により周回軌道の周回数を確定する(S7)。その後に、周回数と飛行時間とから正確な質量数を求める(S8)。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
イオン源から出発した各種イオンを略同一の軌道に沿って1乃至複数回繰り返し飛行させた後に検出器に導入することで、前記イオンを質量数に応じて分離して検出する飛行時間型質量分析装置において、
a)前記イオン源を出発した位置から前記軌道に入るまで若しくはイオンが前記軌道を離れる位置から検出器に到達するまでの間での実効的な飛行距離、又は通過するイオンを減速させる又は加速させる力の付与の状態、が相違する少なくとも2つの態様で、それぞれイオンの飛行時間を測定する測定手段と、
b)前記測定手段による測定により得られる少なくとも2つの飛行時間スペクトルに現れるピークの形状を比較することにより同一種のイオンに由来するピークを見つけるピーク同定手段と、
c)前記ピーク同定手段により見い出された同一種のイオンに由来するピークから得られる飛行時間の差に基づいて該イオンの質量数を推定する処理手段と、
を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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