特許
J-GLOBAL ID:200903021632312280

電気コネクタの導通検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 日比谷 征彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-360749
公開番号(公開出願番号):特開2000-182743
出願日: 1998年12月18日
公開日(公表日): 2000年06月30日
要約:
【要約】【課題】 接続端子の導通検査の実施を容易にする。【解決手段】 ハウジング3に後端面24側から挿入したリアホルダ4は、ハウジング3に対して中間まで挿入し接続端子2のハウジング3への挿入を可能とする仮係合位置と、十分に押し込み接続端子2を係止する本係合位置とで係合する。ハウジング3の内部には接続端子2を収容するための複数の端子収容孔28を2列に形成し、ハウジング3の外壁21には、端子収容孔28と外部を連通する孔部37を設ける。この孔部37は、リアホルダ4が仮係合位置にあるときに、導通検査具53、54の接点51、52が接続端子2の端子本体部11に接触可能な位置に設ける。
請求項(抜粋):
電線を後部に接続した接続端子をハウジングの端子収容孔に収容した電気コネクタにおいて、前記ハウジングの外壁に形成した孔部を介して導通検査具の接点を前記接続端子に接触させることにより前記接続端子の導通を検査することを特徴とする電気コネクタの導通検査方法。
IPC (2件):
H01R 43/00 ,  G01R 31/04
FI (2件):
H01R 43/00 Z ,  G01R 31/04
Fターム (6件):
2G014AA07 ,  2G014AA13 ,  2G014AB60 ,  2G014AC01 ,  5E051GA09 ,  5E051GB09
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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