特許
J-GLOBAL ID：200903021925641963
多層組織の光学的性質の測定のための方法および集成装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
吉武 賢次
, 中村 行孝
, 紺野 昭男
, 横田 修孝
, 高村 雅晴
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-568978
公開番号（公開出願番号）：特表2004-528542
出願日： 2002年03月06日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：
本発明は、多層組織の光学的性質の測定のための方法および集成装置に関する。更に詳しくは、本発明は組織中における腫瘍の検出および特性付けのための方法に関する。
請求項（抜粋）：
多層組織の光学的性質の測定方法であって、
(a)いくつかの方向(θ0,φ0)から連続的に平行電磁ビームで多層組織を照射し、および
(b)各照射方向について、多数の異なる波長(λ)で多層組織を照射し、および
(c)各照射方向および波長について、多数の視野方向(θ,φ)で反射または散乱光を検出し、および
(d)光学的性質がインバージョンアルゴリズムにより調べられる合成データベースを作るために、いくつかの視角で反射拡散光について解明する連結空気/組織系の厳密な放射伝達モデルを用いる
ステップからなる方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/17 625
, A61B10/00 E
2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE11
, 2G059FF01
, 2G059FF06
, 2G059GG01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059KK04
, 2G059MM01
