特許
J-GLOBAL ID:200903021929727544

非破壊検査システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 敏忠 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-321020
公開番号(公開出願番号):特開2002-131296
出願日: 2000年10月20日
公開日(公表日): 2002年05月09日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 検査対象物の、欠陥や腐食等の経時的減肉による緩やかな断面変化を、少ない回数で、正確且つ短時間に測定できる非破壊検査システムの提供。【解決手段】 検査対象を挟み送信手段12と受信手段14を配置し、送信手段から対称形状の高周波信号を送信する。受信手段で受信した対称性が崩れた高周波信号を時間軸上で反転22し、それを送信手段に入力する。送信手段は受信手段から入力された対称性が崩れた高周波信号を送信し、受信手段はこの信号を受信する。受信された高周波信号の対称形状が崩れた程度から減肉量や異常部分を定量的に分析36する。
請求項(抜粋):
検査対象を一対の高周波信号手段によって挟み込み、一方の高周波信号手段から検査対象を介して他方の高周波信号手段に向けて高周波信号を送信し、受信された高周波信号を検査対象を透過した際の分散の影響を除去する様に処理し、送信された高周波信号に対する処理後の高周波信号の変化を定量的に決定し、高周波信号の変化量から検査対象における異常部分を定量分析することを特徴とする非破壊検査システム。
IPC (2件):
G01N 29/22 501 ,  G01N 29/08 501
FI (2件):
G01N 29/22 501 ,  G01N 29/08 501
Fターム (13件):
2G047AA07 ,  2G047AB01 ,  2G047AB03 ,  2G047AB04 ,  2G047BA02 ,  2G047BC08 ,  2G047BC09 ,  2G047BC11 ,  2G047EA09 ,  2G047EA10 ,  2G047GA14 ,  2G047GF00 ,  2G047GG28
引用特許:
審査官引用 (6件)
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引用文献:
審査官引用 (1件)
  • 軟鋼ワイヤの探傷における送信波形の最適化

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