特許

J-GLOBAL ID：200903021936306686

平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置

発明者： 片西 章浩 ,  西條 豊 ,  山田 芳孝 ,  細田 俊弘 ,  藤井 敏夫
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所 ,  テクノス株式会社
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-301889
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124659
出願日： 1999年10月25日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 ラインセンサによる自動検査と検査員の視覚による目視検査を併用できる平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置を提供すること。【解決手段】 平面表示装置2の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサ24でスキャンし、このラインセンサ24によって平面表示装置2の各素子の光量を平面表示装置2の画面2aに対し垂直な方向(B’方向)において計測し、この光量データに基づいて平面表示装置2の各素子の輝度の良否判定を行い平面表示装置2の欠陥を自動検査する平面表示装置の品位検査装置において、検査時に平面表示装置2を斜めに設置するための筐体3を設け、前記ラインセンサ24による自動検査と目視による検査とを行うように構成している。

請求項（抜粋）：

平面表示装置の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサでスキャンし、このラインセンサによって平面表示装置の各素子の光量を平面表示装置の画面に対し垂直な方向において計測し、この光量データに基づいて平面表示装置の各素子の輝度の良否判定を行い平面表示装置の欠陥を自動検査するにあたり、平面表示装置を筐体に対して斜めに取り付けた状態で前記ラインセンサによる前記欠陥を判別する自動検査を行い、その後、視覚による平面表示装置の欠陥を判別する目視検査を行うようにしたことを特徴とする平面表示装置の品位検査方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101

FI (2件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101

Fターム (5件)：

2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088HA25 ,  2H088MA20

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 液晶表示パネルの検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-094683   出願人：株式会社日本マイクロニクス
• 液晶ディスプレイの検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-294202   出願人：京セラ株式会社
• 平面表示装置の品位検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-329619   出願人：株式会社堀場製作所, テクノス株式会社