特許
J-GLOBAL ID：200903044382211424
平面表示装置の品位検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-329619
公開番号（公開出願番号）：特開平11-142287
出願日： 1997年11月12日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：
【要約】【課題】 表示画面の撓みによる欠陥検査の不均一性を補正し、LCDなどFPDを高精度に品位検査することができる検査装置を提供すること。【解決手段】 平面表示装置2の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサ24でスキャンして、平面表示装置の各素子の光量を計測し、平面表示装置2の各素子の輝度の良否判定を行うようにした検査装置において、前記平面表示装置2の画面とラインセンサ24との間の距離を測定し、この測定結果と、予め求めてあるラインセンサ2と平面表示装置24画面との距離によるラインセンサ2の感度分布とに基づいてラインセンサ2の感度のバラツキを補正するようにした。
請求項（抜粋）：
平面表示装置の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサでスキャンして、平面表示装置の各素子の光量を計測し、平面表示装置の各素子の輝度の良否判定を行うようにした平面表示装置の品位検査装置において、前記平面表示装置の画面とラインセンサとの間の距離を測定し、この測定結果と、予め求めてあるラインセンサと平面表示装置画面との距離によるラインセンサの感度分布とに基づいてラインセンサの感度のバラツキを補正するようにしたことを特徴とする平面表示装置の品位検査装置。
引用特許：
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