特許
J-GLOBAL ID：200903021998675670

サンプルからの光を光学的に解析する光学システムおよび方法

発明者：
リール, リチャード

リール, リチャード について


出願人/特許権者：
ピーイー コーポレイション (エヌワイ)

ピーイー コーポレイション (エヌワイ) について


代理人 (1件)： 山本 秀策 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-583137
公開番号（公開出願番号）：特表2003-532887
出願日： 2001年05月04日
公開日（公表日）： 2003年11月05日
要約：
【要約】複数のサンプルからの光を分析する光学システムが提供される。光学システムは、内部にサンプルを有するように調整された複数のホルダと、集束レンズと、透過格子と、再像レンズとを含む。集束レンズは、サンプルからの光を受け、実質的にコリメートするように構成される。透過格子は、実質的にコリメートされた集束レンズからの光をスペクトル分散するように構成される。再像レンズは、光分散要素からの光を受け、その光を光検出デバイスに向けるように構成される。少なくとも1つのサンプルを光学的に分析する方法もまた、提供される。
請求項（抜粋）：
複数のサンプルからの光を分析する光学システムであって、 複数のサンプルホルダと、 該複数のサンプルホルダからの光を受け、実質的にコリメートするように構成された集束レンズと、 該実質的にコリメートされた該集束レンズからの光をスペクトル分散させるように構成された透過格子と、 該透過格子からの該スペクトル分散された光を受け、該スペクトル分散された光を光検出デバイス上に向けるように構成された再像レンズと、を含み、 該システムは、 該複数のサンプルホルダに対面する平面と、該集束レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径とを含む実質的に半球状の光学要素であって、該曲率半径の中心が該集束レンズの光軸上に実質的に位置し、該集束レンズの物体平面に実質的にまたは該集束レンズの物体平面の近くに位置する、実質的に半球状の光学要素を含むか、または、 該システムは、スペクトル分散された光の色収差を補償するように構成され、該補償は、該光検出デバイスの表面に対して非垂直である再像レンズの光軸を含むことの少なくとも1つを含むことを特徴とする光学システム。
IPC (2件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/64
FI (3件)：
G01N 21/27 Z ,  G01N 21/27 B ,  G01N 21/64 F
Fターム (39件)：
2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043EA18 ,  2G043EA19 ,  2G043FA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043JA04 ,  2G043JA05 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059DD03 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE12 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04
引用特許：
審査官引用 (4件)
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