特許

J-GLOBAL ID：200903022101895555

RF-IDの検査システム

発明者： 齋藤 貢 ,  林 孝之
出願人/特許権者： トッパン・フォームズ株式会社
代理人 (1件)： ▲高▼橋 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-269560
公開番号（公開出願番号）：特開2003-076946
出願日： 2001年09月05日
公開日（公表日）： 2003年03月14日
要約：

【要約】【課題】本発明は、製造されるRF-IDの良否を検査するRF-IDの検査システムに関し、確実に対象検査片を特定することで誤検査を防止して不良品流出の防止を図ることを目的とする。【解決手段】シート12上に形成された一のRF-ID21を対象する検査片21Xの周辺に配置されるRF-IDのアンテナ21B間を短絡部材13で短絡させ、システム側アンテナ14を対象の検査片21Xに対向させてシステム側アンテナ14より検査片21Xに情報を送信し、その応答に応じて当該検査片21Xの良否を判定する構成とする。

請求項（抜粋）：

検査対象であるICモジュール、アンテナを備えるRF-IDが同一面上に複数形成されたシートの、一のRF-IDを対象とする検査片に対して通信を行い、良否を検査するRF-IDの検査システムであって、通信を行うためのシステム側アンテナと、前記シートにおける検査対象の検査片の周辺に配置される所定数のRF-IDのアンテナ間を短絡させる短絡部材と、前記システム側アンテナを対象の前記検査片に対して通信させるために、当該システム側アンテナおよび前記短絡部材を移動させる駆動部と、前記検査片に前記システム側アンテナを介して所定の情報を送信し、当該検査片からの応答に応じて当該検査片の良否判定を行う処理部と、を有することを特徴とするRF-IDの検査システム。

IPC (5件)：

G06K 17/00 ,  G06K 5/00 ,  G06K 19/07 ,  G06K 19/077 ,  H01Q 23/00

FI (6件)：

G06K 17/00 B ,  G06K 17/00 F ,  G06K 5/00 Z ,  H01Q 23/00 ,  G06K 19/00 H ,  G06K 19/00 K

Fターム (13件)：

5B035AA11 ,  5B035BB09 ,  5B035BC08 ,  5B035CA23 ,  5B035CA33 ,  5B058CA17 ,  5B058KA02 ,  5B058KA04 ,  5B058KA28 ,  5B058YA20 ,  5J021AA01 ,  5J021AB04 ,  5J021JA10

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 気相成長装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-319581   出願人：古河電気工業株式会社
• サービス機器用スライド装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-109861   出願人：大井恭明