特許
J-GLOBAL ID：200903022116007281

X線CTシステムにおけるX線露光の制御方法

発明者：
ヤン ショングウェイ

ヤン ショングウェイ について


出願人/特許権者：
ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー

ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー について


代理人 (1件)： 伊藤 信和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-324906
公開番号（公開出願番号）：特開2009-160394
出願日： 2008年12月22日
公開日（公表日）： 2009年07月23日
要約：
【課題】本発明は、X線CTシステムにおけるX線露光の制御方法を提供する。【解決手段】本発明の方法は、下記のステップが含まれる。投影面積値の比例因子rと走査断面の幾何学的中心のシフト量Cyとの対応関係表又は関数関係を組み立てる;被検者に対してスカウト走査し、スカウト走査データにより「測定した投影面積値」と投影測定値を計算する;走査断面の幾何学的中心と回転中心とのシフト量Cyを計算する;得られたシフト量Cyを上記対応関係表又は関数関係に導入して、それと対応する比例因子rを得る;当該例因子rと測定した投影面積値により標準投影面積値を計算する;自動露光機能は計算した標準投影面積値、投影測定値及び他のシステムのパラメータにより露光に必要する管電流値を自動的に確定して露光する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
X線CTシステムにおけるX線自動露光の制御方法であって、下記のステップが含まれる; ステップ10:投影面積値の比例因子rと走査断面の幾何学的中心のシフト量Cyとの対応関係表又は関数関係を組み立て、当該投影面積値の比例因子rは、被検者の走査断面の幾何学的中心が回転中心から偏移した場合の投影面積値と、被検者の走査断面の幾何学的中心が回転中心に位置する場合の標準投影面積値との比である; ステップ11:被検者に対してスカウト走査し、スカウト走査データにより「測定した投影面積値」と投影測定値とを計算する; ステップ12:走査断面の幾何学的中心と回転中心とのシフト量Cyを計算する; ステップ13:ステップ12で得られたシフト量Cyをステップ10における上記対応関係表又は関数関係に導入して、それと対応する比例因子rを得る; ステップ14:比例因子rと測定した投影面積値により、標準投影面積値を計算する; ステップ15:自動露光機能は、計算した標準投影面積値、投影測定値及び他のシステムのパラメータにより、自動的に露光に必要する管電流値を確定して露光する ことを特徴とするX線CTシステムにおけるX線自動露光の制御方法。
IPC (1件)：
A61B 6/03
FI (1件)：
A61B6/03 330B
Fターム (17件)：
4C093AA22 ,  4C093BA17 ,  4C093CA06 ,  4C093CA34 ,  4C093FA18 ,  4C093FA43 ,  4C093FA45 ,  4C093FA59 ,  4C093FC28 ,  4C093FD03 ,  4C093FD07 ,  4C093FD11 ,  4C093FF16 ,  4C093FF19 ,  4C093FF21 ,  4C093FF23 ,  4C093FF33
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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