特許
J-GLOBAL ID：200903022153882494
全反射レーザー照射法を用いた質量分析測定の定量化
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 邦雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-045692
公開番号（公開出願番号）：特開2007-225395
出願日： 2006年02月22日
公開日（公表日）： 2007年09月06日
要約：
【課題】 本願発明の目的は、質量分析において、マトリックスを用いることなく、エバネッセント光を試料に照射することにより、試料の分子数を定量的にカウントすることである。 【解決手段】 レーザー光を台形状のプリズムの底面に平行に導入し、該プリズムの底面の内面において全反射させることにより、該底面の外面においてエバネッセント光を生じせしめ、該エバネッセント光により該外面に塗布された試料を気化させることにより試料の定量的分析を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料の定量的分析法であって、レーザー光を台形状のプリズムの底面に平行に導入し、該プリズムの底面の内面において全反射させることにより、該底面の外面においてエバネッセント光を生じせしめ、該エバネッセント光により該外面に塗布された試料を気化させることを特徴とする試料の定量的分析法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N27/64 B
, G01N27/62 V
2G041CA01
, 2G041DA03
, 2G041EA01
, 2G041FA07
, 2G041HA10
, 2G041JA16
, 2G041LA08
