特許
J-GLOBAL ID:200903022390623991
3-5族化合物半導体の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
久保山 隆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-154411
公開番号(公開出願番号):特開平11-112030
出願日: 1998年06月03日
公開日(公表日): 1999年04月23日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】高品質の3-5族化合物半導体を、ドーパントのメモリ効果を低減して繰り返し製造する方法を提供する。【解決手段】〔1〕一般式InxGayAlzNで表される、有機金属気相成長法による3-5族化合物半導体の製造方法において、p型ドーパントをドープしない層からなる半導体層を成長させる反応炉と、p型ドーパントをドープする反応炉とを互いに異なるものとする3-5族化合物半導体の製造方法。〔2〕一般式InxGayAlzNで表される、有機金属気相成長法による3-5族化合物半導体の製造方法において、例えばp型ドーパントをドープしない層からなる1層または2層以上を含む半導体を、一つの反応炉で成長させ、これを反応炉の外に取り出す工程を複数回繰り返す3-5族化合物半導体の製造方法。
請求項(抜粋):
p型ドーパントをドープしない層からなる半導体層と、p型ドーパントをドープする層を含む半導体層とを有する一般式InxGayAlzN(x+y+z=1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される、有機金属気相成長法による3-5族化合物半導体の製造方法において、p型ドーパントをドープしない層からなる半導体層を成長させる反応炉と、p型ドーパントをドープする反応炉とを互いに異なるものとすることを特徴とする3-5族化合物半導体の製造方法。
IPC (3件):
H01L 33/00
, C30B 29/40 502
, H01L 21/205
FI (3件):
H01L 33/00 C
, C30B 29/40 502 H
, H01L 21/205
引用特許:
出願人引用 (5件)
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特開昭61-083700
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3-5族化合物半導体及び発光素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-218861
出願人:住友化学工業株式会社
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プラズマ処理方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-061890
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
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審査官引用 (7件)
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