特許
J-GLOBAL ID：200903023091906355

スミア検出方法及びこのスミア検出方法を用いた画像処理装置

発明者：
塚岡 英樹

塚岡 英樹 について

, 
塚岡 早苗

塚岡 早苗 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (1件)： 大岩 増雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-371938
公開番号（公開出願番号）：特開2003-174642
出願日： 2001年12月05日
公開日（公表日）： 2003年06月20日
要約：
【要約】【課題】 撮像した画面内に強い光源があると、この光源から放射したような光線状の線が画面内に生じるスミアという現象があり、画像処理に障害となるので、スミア画像処理対象から除外するため、スミアの検出が必要である。従来の検出方法は、例えば画面内の一部をマスキングするため、画像の有効面積が減少してしまうという課題があった。【解決手段】 用いるカメラがCCDである場合には、スミアは特定の方向に現れる。そこで、スミア503に直交する方向にスミア監視領域504を設定し、この監視領域内の輝度の高い点をスミア監視候補に選定する。次いで、このスミア監視候補を含みスミア503に平行する方向の線上の輝度が全て高ければ、この線をスミア領域であると判定する。
請求項（抜粋）：
画面上に、発生が予想されるスミアの方向に対して直交する方向にスミア監視領域を設定するスミア監視領域設定手順と、前記監視領域を構成する第1画素の全てについて、各第1画素の輝度と、各第1画素から前記スミアに対して直交方向に所定の画素数離れた位置に存在する第2画素の輝度との輝度差を求め、この輝度差が所定の閾値以上である前記第1画素をスミア候補画素として検出するスミア候補画素検出手順と、前記スミア候補画素を含み前記スミアと平行な直線上に存在する第3画素の輝度と、この第3画素から前記スミアに対して直交方向に所定の画素数離れた位置に存在する第4画素の輝度との輝度差を求め、この輝度差が所定の閾値以上であった場合、前記スミア候補画素と前記第3画素とを含む領域をスミア発生領域であると判定するスミア判定手順とを含むことを特徴とするスミア検出方法。
IPC (2件)：
H04N 7/18 ,  H04N 5/335
FI (2件)：
H04N 7/18 J ,  H04N 5/335 P
Fターム (10件)：
5C024BX04 ,  5C024CX13 ,  5C024GY01 ,  5C024HX29 ,  5C024JX09 ,  5C054AA01 ,  5C054EA01 ,  5C054FC05 ,  5C054FC12 ,  5C054HA30
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 画像認識装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-012333   出願人：富士通テン株式会社
  • 自動焦点調節装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-270912   出願人：富士写真フイルム株式会社

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