特許
J-GLOBAL ID:200903023170956171

平面検出器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-073875
公開番号(公開出願番号):特開平11-271456
出願日: 1998年03月23日
公開日(公表日): 1999年10月08日
要約:
【要約】【課題】X線平面検出器の温度を適切に制御でき、より具体的には動作温度及び保管温度内に維持することができ、このためX線平面検出器のフォトコンダクタ等が変質するといった不具合が生じることがなく、均一な画像を得ることができるX線平面検出器を提供すること。【解決手段】X線平面検出器の温度を調整する手段として、ガラス支持体60の熱発生領域61に取付けられる冷却機構6を備える。冷却機構6はペルチェ素子63、放熱フィン65、及び強制空冷ファン66から構成される。また、ペルチェ素子63とガラス支持体60との間、および放熱フィン66とペルチェ素子63との間には熱伝導体であるシリコンゴム62、64が設けられる。ペルチェ素子63及び強制空冷ファン66は独立して駆動制御される。このため各々を同時に作動させ、又は個別に作動させることが可能である。
請求項(抜粋):
検出面に配列された複数の画素に対応して設けられ、入射したX線を電荷に変換する電荷変換手段と、前記電荷変換手段に対応して設けられ、前記電荷変換手段により変換された電荷を蓄積する蓄積手段と、前記電荷蓄積手段に蓄積された電荷を読み出す電荷読み出し手段とを含む検出手段を備えた平面検出器において、前記電荷変換手段近傍の所定の熱発生領域に設けられ、当該領域の温度を制御する温度制御手段を備えたことを特徴とする平面検出器。
IPC (3件):
G01T 1/24 ,  A61B 6/00 300 ,  G01T 1/20
FI (3件):
G01T 1/24 ,  A61B 6/00 300 S ,  G01T 1/20 E
引用特許:
審査官引用 (4件)
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