特許

J-GLOBAL ID：200903023217743589

放射線断層撮影装置、放射線断層撮影方法、画像処理装置、および、エッジ抽出装置

発明者： 河内 直幸
出願人/特許権者： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
代理人 (1件)： 佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-411758
公開番号（公開出願番号）：特開2005-168726
出願日： 2003年12月10日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：

【課題】画像のエッジ部分を容易に抽出し、画像のコントラストと画像の均一化とを向上させることができ画像品質を向上する。【解決手段】X線検出アレイにて生成される投影データに基づいて撮影領域の原画像を原画像生成部41により生成し、原画像生成部41により生成される原画像におけるエッジ部分をエッジ抽出部42により抽出する。そして、画素識別部43によって、原画像においてエッジ部分を第1画素として識別し、エッジ部分以外を第2画素として識別する。そして、第1補正部44によって、第2画素に対して平滑化処理をして補正し第1補正画像を生成する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

被検体の撮影領域に放射線を照射する照射手段と、 前記照射手段から照射され前記撮影領域を透過する前記放射線を検出し投影データを生成する放射線検出手段と、 前記放射線検出手段にて生成される投影データに基づいて前記被検体の撮影領域の原画像を生成する原画像生成手段と、 前記原画像生成手段により生成される原画像におけるエッジ部分を抽出するエッジ抽出手段と、 前記原画像において前記エッジ抽出手段により抽出される前記エッジ部分を第1画素として識別し、前記エッジ部分以外を第2画素として識別する識別手段と、 前記識別手段により識別される第2画素に対して平滑化処理をして補正し第1補正画像を生成する第1補正手段と を有する 放射線断層撮影装置。

IPC (3件)：

A61B6/03 ,  G06T1/00 ,  H04N5/325

FI (3件)：

A61B6/03 360B ,  G06T1/00 290A ,  A61B6/00 350M

Fターム (32件)：

4C093AA22 ,  4C093CA04 ,  4C093CA06 ,  4C093FD02 ,  4C093FD03 ,  4C093FD05 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11 ,  4C093FD13 ,  4C093FF06 ,  4C093FF09 ,  4C093FF19 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CE05 ,  5B057CH09 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-352619   出願人：株式会社日立メディコ

審査官引用 (2件)

• エッジ検出方法および画像処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-358594   出願人：富士写真フイルム株式会社
• 画像処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-207954   出願人：株式会社島津製作所