特許

J-GLOBAL ID：200903023268671523

測距装置

発明者： 野中 修
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-027001
公開番号（公開出願番号）：特開平10-221065
出願日： 1997年02月10日
公開日（公表日）： 1998年08月21日
要約：

【要約】【課題】2方式での測距機能を持ち、より広い範囲の状態の被写体に対して良好な測距が可能で、小型、かつ、低価格の測距装置を提案する。【解決手段】全体の制御を司るCPU10と、受光レンズ1a,1bとセンサアレイ2a,2bとスイッチ回路3と積分回路等を内蔵する測距部6と、投光用LED8a、および、AFIC7で構成された測距装置であり、スイッチ回路3によりセンサアレイ2a,2bの出力をA/D変換回路4側に切り換え、パッシブAFモードでの測距を行う。また、スイッチ回路3によりセンサアレイ2bの出力をAFIC7側に切り換え、アクティブAFモードでの測距を行う。

請求項（抜粋）：

2つの光路から入射した被写体像の2つの輝度パターンを検出するために2つのセンサアレイと、このセンサアレイからの出力信号を積分する積分手段とを有し、上記2つの輝度パターンを比較して、上記被写体までの距離を測定するカメラにおいて、上記2つのセンサアレイの少なくとも一方のセンサアレイの出力信号を、上記積分手段から切り離し、パルス的な光電流成分を検出する検出回路に入力するスイッチ手段を有することを特徴とする測距装置。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G01C 3/06 A ,  G01C 3/06 V ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-088336   出願人：キヤノン株式会社
• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-022948   出願人：キヤノン株式会社