特許
J-GLOBAL ID：200903023330589154

観察装置

発明者：
菊地 奨

菊地 奨 について

, 
河野 芳弘

河野 芳弘 について

, 
大場 雅宏

大場 雅宏 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (2件)： 上田 邦生 ,  藤田 考晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-001670
公開番号（公開出願番号）：特開2007-183425
出願日： 2006年01月06日
公開日（公表日）： 2007年07月19日
要約：
【課題】試料内部の発光部位の鮮明な3次元画像を取得する。【解決手段】ステージ2に搭載された試料A内部に焦点を配置する対物光学系4と、試料A内部の焦点近傍から異なる光軸方向に発せられた光を、対物光学系4により集光して検出し、複数の画像情報を取得する画像取得装置6と、該画像取得装置6により取得された複数の画像情報に基づいて、焦点位置P近傍の発光部位の3次元画像を構成する3次元画像構成部8とを備える観察装置1を提供する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
ステージに搭載された試料内部に焦点を配置する対物光学系と、 試料内部の焦点近傍から異なる光軸方向に発せられた光を、前記対物光学系により集光して検出し、複数の画像情報を取得する画像取得装置と、 該画像取得装置により取得された複数の画像情報に基づいて、焦点位置近傍の発光部位の3次元画像を構成する3次元画像構成部とを備える観察装置。
IPC (2件)：
G02B 21/00 ,  G02B 21/26
FI (2件)：
G02B21/00 ,  G02B21/26
Fターム (4件)：
2H052AA09 ,  2H052AC06 ,  2H052AD21 ,  2H052AF25
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 米国特許出願公開第2004/0021771号公報
審査官引用 (4件)
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