IC測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：志賀正武 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-397454
公開番号（公開出願番号）：特開2002-196054
出願日： 2000年12月27日
公開日（公表日）： 2002年07月10日
要約：

【要約】【課題】被測定ICの出力タイミングを測定するのに時間がかからないIC測定装置を提供する。【解決手段】 2つの判定ストローブパルス(S21)を出力する第1のタイミングジェネレータ(TG21)と、2つの判定ストローブパルス(S21)に基づいて、1つのテストサイクル内の2つの時刻におけるデータストローブ(DCK2)の状態を検出する第1のエッジ検出手段(E21)と、2つの判定ストローブパルス(S22)を出力する第2のタイミングジェネレータ(TG22)と、2つの判定ストローブパルス(S22)に基づいて、1つのテストサイクル内の2つの時刻におけるデータの状態を検出する第2のエッジ検出手段(E22)と、データの状態と、データストローブの状態とに基づいて、データストローブを基準としたデータのタイミングの合否を判定する判定手段(J22)とを設けた。

請求項（抜粋）：

被測定ICから出力されるデータストローブとデータとのタイミングの合否を判定するIC測定装置であって、このIC測定装置のテストサイクルに同期した、時刻の異なる2つの判定ストローブパルスを出力する第1のタイミングジェネレータと、この第1のタイミングジェネレータが出力した、時刻の異なる2つの判定ストローブパルスに基づいて、1つのテストサイクル内の2つの時刻におけるデータストローブの状態を検出する第1のエッジ検出手段と、前記IC測定装置のテストサイクルに同期した、時刻の異なる2つの判定ストローブパルスを出力する第2のタイミングジェネレータと、この第2のタイミングジェネレータが出力した、時刻の異なる2つの判定ストローブパルスに基づいて、1つのテストサイクル内の2つの時刻におけるデータの状態を検出する第2のエッジ検出手段と、この第2のエッジ検出手段が検出したデータの状態と、前記第1のエッジ検出手段が検出したデータストローブの状態とに基づいて、データストローブを基準としたデータのタイミングの合否を判定する判定手段とを有することを特徴とするIC測定装置。

IPC (2件)：

G01R 31/319 , G01R 31/28

FI (2件)：

G01R 31/28 R , G01R 31/28 M

Fターム (7件)：

2G032AB06 , 2G032AD06 , 2G032AE00 , 2G032AE08 , 2G032AE11 , 2G032AH04 , 2G032AL00

引用特許：

審査官引用 (7件)

IC試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-321991 出願人：株式会社アドバンテスト
特開平1-138477
特開平1-193665

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