特許
J-GLOBAL ID：200903023839701433
光熱変換測定装置及びその方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-141122
公開番号（公開出願番号）：特開2006-317325
出願日： 2005年05月13日
公開日（公表日）： 2006年11月24日
要約：
【課題】 試料中における光熱効果による特性変化の測定を,試料の吸収分光特性の測定も含めて簡易な構成により高感度かつ低ノイズで測定できること。 【解決手段】 相互に波長帯が異なる2つの励起光B3a,B3bに対しチョッパ2により試料5への照射前に相互に逆位相の強度変調を施し,試料5を透過した測定光B1を検出するとともに,その検出信号から信号処理装置21により励起光の強度変調周期と同周期成分を抽出する。2つの励起光の強度バランスを,いずれの励起光の照射中でもセル15や溶媒の温度に変化が生じないように設定しておく。測定光B1の検出は,例えば,試料5を透過した測定光B1に所定の参照光B2を干渉させその干渉光の強度を検出する光干渉法に基づき行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
励起光が照射された試料の光熱効果により生じる前記試料の特性変化を,前記試料に照射されこれを透過した測定光に基づいて測定するために用いる光熱変換測定装置であって,
相互に波長帯が異なる2つの前記励起光に対し相互に逆位相の強度変調を施す逆位相強度変調手段と,
前記試料を透過した前記測定光を検出する測定光検出手段と,
前記測定光検出手段の検出信号から前記励起光の強度変調周期と同周期成分を抽出する同周期成分抽出手段と,
を具備してなることを特徴とする光熱変換測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N25/16 C
, G01N21/45 A
2G040AA02
, 2G040AB07
, 2G040BA24
, 2G040CA23
, 2G040EA06
, 2G040EB02
, 2G059AA02
, 2G059BB04
, 2G059DD03
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE04
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059FF11
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059GG09
, 2G059GG10
, 2G059HH02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059JJ24
, 2G059KK01
