特許

J-GLOBAL ID：200903023904485905

波形発生器および試験装置

発明者： 大高 太一
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (3件)： 森下 賢樹 ,  村田 雄祐 ,  三木 友由
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-073493
公開番号（公開出願番号）：特開2008-232857
出願日： 2007年03月20日
公開日（公表日）： 2008年10月02日
要約：

【課題】DACの最低サンプリング周波数よりも低い周波数の試験信号を生成する波形発生器を提供する。【解決手段】波形発生器10において、クロック発生器106は、クロック信号140を生成する。分周部112は、クロック信号140を分周して、分周クロック信号144を生成する。読出部118は、分周クロック信号144の周期でアドレス信号を波形メモリ120に供給し、波形メモリ120からパターンデータをDAC130に読み出す。DAC130は、クロック信号140の周期で、波形メモリ120から供給されるデータをアナログ値に変換して、任意波形を出力する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

波形を生成する波形発生器であって、 波形のパターンを示すパターンデータを保持するメモリと、 クロック信号を発生するクロック信号発生器と、 前記クロック信号を分周した周期で前記メモリから前記パターンデータを読み出す読出部と、 前記クロック信号の周期で、読み出された前記パターンデータに基づく波形を出力するデジタルアナログ変換部と、 を備えることを特徴とする波形発生器。

IPC (1件)：

G01R 31/318

FI (1件)：

G01R31/28 Q

Fターム (5件)：

2G132AC03 ,  2G132AE14 ,  2G132AG02 ,  2G132AG08 ,  2G132AL35

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 任意波形発生器、及び試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-161212   出願人：株式会社アドバンテスト
• 特開平4-014901
  
• IC試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-267689   出願人：株式会社日立製作所

審査官引用 (2件)

• IC試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-267689   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平4-014901