特許
J-GLOBAL ID：200903024111213161

レンズ測定装置およびレンズ測定方法ならびにチャート紙

発明者：
高垣 拓樹

高垣 拓樹 について


出願人/特許権者：
チノンテック株式会社

チノンテック株式会社 について


代理人 (1件)： 渡辺 秀治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-152999
公開番号（公開出願番号）：特開2002-350285
出願日： 2001年05月22日
公開日（公表日）： 2002年12月04日
要約：
【要約】【課題】 ディジタルカメラなどのレンズの量産工程において、簡単なシステムで効率よくレンズ評価を可能とする。【解決手段】 直交する方向に2つのエッジe1,e2を有する画像が描かれたチャート紙1と、そのエッジを含む画像を取り込む検査対象となる被検レンズ2と、合焦されたエッジe1,e2の画像を拡大する顕微鏡31と、その拡大された画像を取り込むCCDカメラ32と、このCCDカメラ32からのエッジe1,e2部分に関する画像データをレンズ評価用の測定データとするための信号処理を行うディジタル信号処理手段4とを有する。このディジタル信号処理手段4は、CCDカメラ32から出力されたエッジ部分の画像データをステップ応答として捉え、そのステップ応答した画像データを微分し、像の強度分布を表すLSF波形とし、そのLSF波形をフーリエ変換して、レンズ評価のための変調伝達関数であるMTFをレンズの評価用データとして得る処理を行う。
請求項（抜粋）：
画像により形成されたエッジを有するチャートと、そのエッジを含む画像を取り込む検査対象となる被検レンズと、この被検レンズによって合焦された上記エッジの画像を取り込む撮像手段と、その撮像手段からの上記エッジ部分に関するデータをレンズ評価用の測定データとするための処理を行うディジタル信号処理手段とを有することを特徴とするレンズ測定装置。
FI (2件)：
G01M 11/02 A ,  G01M 11/02 B
Fターム (1件)：
2G086HH05
引用特許：
審査官引用 (15件)
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